Occasion PHENOMWORLD Phenom XL #293752339 à vendre en France

C'est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu avec précision pour offrir des performances et une productivité d'imagerie exceptionnelles. Ce SEM utilise un canon à émission haute performance en champ froid (FEG) et un équipement de détection et d'imagerie automatisé haute résolution qui produit des images de qualité étonnante au niveau du nanomètre. Phenom XL est conçu avec un large éventail d'utilisateurs en tête, permettant aux utilisateurs novices aux experts d'accéder aux mêmes résultats d'imagerie de haute qualité. Le détecteur d'électrons secondaire à haute résolution dans les lentilles se trouve au cœur de la gamme de phénomes PHENOM XL. Ce détecteur réduit considérablement les effets des artefacts de charge et délivre une imagerie précise et détaillée. Le détecteur a également une fonction de recul, qui capture plusieurs images avec différentes profondeurs de mise au point dans un seul balayage. Cette caractéristique augmente la précision de l'image et permet des mesures précises. Phenom XL dispose d'un système d'automatisation avancé pour faciliter la manipulation des échantillons. Son étape de balayage intégré utilise une variété de porte-échantillons, y compris l'unité brevetée « Dual Lock » pour l'échange automatisé de porte-échantillons. Cette machine offre un positionnement précis et un échange rapide d'échantillons. Le système Phénom XL comprend également un certain nombre de fonctionnalités conviviales comme une interface graphique intuitive à écran tactile et de puissants outils logiciels qui facilitent la mise en place d'expériences, la capture et l'analyse d'images, ainsi que la création de rapports. Phenom XL offre des contrôles environnementaux robustes et peut fonctionner dans une variété d'environnements. Il s'intègre bien aux paramètres de laboratoire et de production et sa chambre est conçue avec des capacités de purge pour réduire la contamination microbienne. Le Phenom XL est un choix idéal pour l'imagerie de divers échantillons au niveau du nanomètre, couvrant un large éventail d'applications telles que l'analyse des matériaux, l'analyse des défaillances, l'inspection et l'identification des défauts, la fabrication de dispositifs semi-conducteurs et la quantification de la métrologie nanométrique. Offrant des performances imbattables et une convivialité, Phenom XL est le choix idéal pour les applications d'imagerie.