Occasion PHILIPS CM10 #293645024 à vendre en France
URL copiée avec succès !
Appuyez sur pour zoomer
ID: 293645024
Transmission Electron Microscope (TEM)
Chiller
Power
(2) Vacuum pumps
CTI 8200 Compressor
(8) Grinding equipment
Microtom
QUORUM / POLARON SC7640 Sputter coater
(2) BRINKMANN Retsch RMO mortar grinders.
Le microscope électronique à balayage PHILIPS CM10 (SEM) est un outil très avancé pour visualiser et mesurer les caractéristiques de surface d'une grande variété de matériaux, avec une résolution jusqu'à 1 nanomètre, le plus haut disponible dans n'importe quel SEM. CM10 est un canon à émission de champ avancé (FEG) SEM équipé d'un détecteur EDX en colonne, d'un système de gaz haute pression, d'un détecteur basse dépression, d'un détecteur de rétrodiffusion basse énergie et d'un détecteur d'imagerie multicanal. Il offre une gamme extraordinaire de fonctionnalités, y compris un grand champ de vision, une résolution supérieure, et des capacités avancées de traitement de signal d'image. La FEG de PHILIPS CM10 lui confère un excellent contraste et une haute résolution. Ce type de canon à électrons utilise un fort champ électrique pour extraire les électrons de l'émetteur, ce qui permet une plus grande stabilité et un meilleur contrôle du faisceau d'électrons. Son contraste et sa résolution élevés le rendent apte à analyser et mesurer les surfaces jusqu'à l'échelle du nanomètre, ainsi qu'à examiner la morphologie de la surface. Le détecteur EDX en colonne (radiographie dispersive d'énergie) donne à CM10 la capacité d'analyser la composition élémentaire des échantillons lors de l'imagerie, ce qui le rend apte à identifier la composition de surface sans traitement supplémentaire. Ce détecteur peut recueillir des spectres de rayons X avec une sensibilité et une résolution élevées, et il est optimisé pour une préparation minimale des échantillons et une simple acquisition de données. PHILIPS CM10 a un grand champ de vision, jusqu'à 12 mm, ce qui le rend apte à l'imagerie de grands échantillons, tels que les circuits intégrés et les plaquettes. Ce large champ de vision peut encore être ajusté pour une résolution optimale des caractéristiques de l'échelle nanométrique. CM10 dispose également d'un système de gaz à haute pression, d'un détecteur à basse dépression et d'un détecteur de rétrodiffusion à basse énergie. Le système de gaz haute pression permet la manipulation d'échantillons au microscope, tels que le déplacement assisté par gaz ou l'injection d'échantillons. Le détecteur à vide est utilisé pour détecter les électrons réfléchis à partir d'une plage de nanomètres spécifique, permettant l'imagerie de structures profondes et d'autres caractéristiques autrement difficiles à détecter. Le détecteur de rétrodiffusion basse énergie détecte un rayonnement de fond faible qui peut aider à identifier les caractéristiques à l'échelle nanométrique. PHILIPS CM10 est également équipé d'un détecteur d'imagerie multicanal. Ceci est utilisé pour détecter plusieurs champs EM simultanément et de manière plus efficace, permettant l'acquisition d'images plus détaillées. Dans l'ensemble, CM10 est un SEM avancé à haute résolution avec un grand champ de vision, des détecteurs puissants, et dans la colonne EDX. Avec sa gamme impressionnante de caractéristiques, PHILIPS CM10 est idéal pour l'imagerie et la mesure de caractéristiques de surface d'une grande variété de matériaux, et peut être utilisé pour mesurer même les plus petites caractéristiques nanométriques.
Il n'y a pas encore de critiques