Occasion PHILIPS / FEI 1076301 #293660714 à vendre en France

ID: 293660714
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI 1076301 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil de nouvelle génération utilisé pour l'imagerie et l'analyse des propriétés physiques à haute résolution. À l'aide d'un faisceau d'électrons focalisés, ce SEM est capable d'imiter une grande variété de matériaux sous forme organique et inorganique. FEI 1076301 est équipé d'une résolution spatiale exceptionnellement élevée, ce qui permet aux utilisateurs d'analyser les fonctionnalités minuscules avec une grande précision. Pour ce faire, on utilise un ensemble de cavités externes différentielles (EC) et de lentilles objectives (OL) pour obtenir une puissance allant jusqu'à 512kV. Avec ce grossissement en profondeur, le SEM est capable de résoudre des détails très fins jusqu'à une profondeur de 1 nanomètre. Il est également équipé d'un système d'imagerie à grand champ de vision (FOV), qui assure une large couverture des échantillons même lorsqu'une image SEM est prise. Ceci, avec les étapes motorisées polyvalentes, permet à un utilisateur de parcourir rapidement un échantillon entier, permettant une analyse topographique détaillée. PHILIPS 1076301 est également équipé d'un puissant réseau de détecteurs, qui peuvent être utilisés pour effectuer des analyses élémentaires, telles que la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) et la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD). 1076301 bénéficie également d'une automatisation avancée, permettant un balayage sans surveillance et une analyse sans surveillance. Cette fonctionnalité élimine la préparation fastidieuse et fastidieuse des échantillons, simplifiant le processus d'imagerie. Il permet également d'obtenir des résultats précis et cohérents car l'analyse est effectuée sans aucune erreur humaine. Enfin, PHILIPS/FEI 1076301 est équipé d'une suite d'outils logiciels propriétaires pour la manipulation d'échantillons, y compris la fonction unique « Mirror », qui permet à un utilisateur de contrôler l'alignement du faisceau d'électrons pour augmenter encore la résolution. De plus, la suite d'automatisation incluse permet à l'utilisateur de créer des rapports détaillés, des annotations d'images et d'autres informations sur les caractéristiques de leurs échantillons. Dans l'ensemble, FEI 1076301 est un microscope électronique à balayage fiable et puissant, bien adapté pour l'imagerie et l'analyse d'une gamme de propriétés physiques dans un large éventail d'applications. Son exceptionnel système d'imagerie haute résolution et bien arrondi, ainsi qu'une suite de fonctionnalités d'automatisation, en font un instrument idéal pour la recherche et les applications industrielles.
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