Occasion PHILIPS / FEI 200 #293642983 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI 200 est une plate-forme de microscopie leader mondial pour l'imagerie et la caractérisation d'un large éventail de micro et nano caractéristiques. Il a une haute résolution qui permet l'imagerie précise de caractéristiques aussi petites que quelques nanomètres ou moins. Grâce à ses capacités de balayage de haute précision, une large gamme de techniques de caractérisation peut être utilisée à des grossissements allant jusqu'à 200 000 FEI. PHILIPS 200 est équipé d'une grande chambre, permettant des tailles d'échantillons jusqu'à 200x200 mm. Un grand détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) recueille des informations sur le contraste, la topographie et la composition élémentaire de la surface, tandis qu'un détecteur d'électrons secondaire (SE) peut être utilisé pour capturer des images de contraste élevé. Une source de faisceau FEI de 2-5 kV peut être utilisée pour augmenter la résolution, permettant l'imagerie de la microstructure interne des échantillons au-delà de ce qui peut être imagé avec un micrographe S/M. Il est également compatible avec une variété de techniques d'imagerie et de tomographie à faible grossissement à haute résolution, telles que la microscopie électronique à balayage à faible vide (LV-SEM). 200 est spécialisé dans l'imagerie haute résolution d'un large éventail d'échantillons, y compris les matériaux organiques, les métaux et les composites. Sa polyvalence le rend idéal pour l'imagerie et l'évaluation de la forme et de la topographie, ainsi que pour l'analyse de la rugosité de surface, le dimensionnement des particules et l'imagerie à l'échelle atomique avec des interconnexions hafnium. Les capacités uniques de la plate-forme de microscopie offrent une facilité d'utilisation et d'automatisation des processus. L'étage peut être équipé d'étages manuels et motorisés, permettant un contrôle précis de la position de l'échantillon ainsi qu'une imagerie automatisée et une analyse de la composition. Divers logiciels d'automatisation et algorithmes de recherche sont disponibles pour faciliter l'analyse des spécimens et le contrôle automatisé des processus. En utilisant des sources de nanofocus avancées, qui peuvent réduire la taille efficace du faisceau d'électrons d'un facteur de 10 et étendre la gamme d'imagerie au-delà de PHILIPS/FEI 200,000x, FEI 200 permet une imagerie de surface et de structure intérieure très détaillée. En outre, le contrôle automatique de l'aberration corrige les distorsions introduites par la diffusion inélastique des électrons, améliorant la précision des résultats d'imagerie. Dans l'ensemble, PHILIPS 200 est un microscope électronique à balayage de pointe conçu pour l'imagerie haute résolution et la caractérisation d'une variété d'échantillons. Doté de capacités d'imagerie et d'analyse fanstatiques et d'une large gamme de fonctionnalités d'automatisation, cet instrument offre une plate-forme fiable pour la caractérisation des matériaux et le contrôle de la qualité.