Occasion PHILIPS / FEI Altura 830 #9329326 à vendre en France

PHILIPS/FEI Altura 830 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu spécifiquement pour la recherche métallurgique et nanométrique avancée. Cette unité est la première vraie SEM à double faisceau au monde, permettant une plus grande fonctionnalité et précision dans la caractérisation des matériaux. Le SEM est équipé d'un canon à émission de champ haute résolution (FEG) pour une capacité d'imagerie améliorée, avec une résolution d'image inférieure à 40 nm à 1 kV de tension accélératrice pour une caractérisation de précision optimale. La véritable capacité de double faisceau de l'Altura permet une variété de techniques d'imagerie, y compris le faisceau d'électrons (EBSD), l'imagerie de surface profonde (DSI), et la cartographie chimique. En mode EBSD, les utilisateurs peuvent visualiser rapidement et avec précision les réseaux cristallins de différents matériaux, aidant à identifier les différentes phases ainsi qu'à déterminer l'orientation préférée de la microstructure. Les modes de cartographie chimique d'Altura analysent la composition élémentaire des surfaces pour évaluer l'interface entre les différents matériaux, une caractéristique utilisée pour l'analyse détaillée des composites, des céramiques et des MEMS multicouches. Grâce à l'utilisation du DSI, l'Altura offre une imagerie transversale pour étudier les dépôts en couches minces et les structures diélectriques à faible k. FEI Altura 830 est également équipé de la dernière technologie de détection EDS, capable de fournir des cartes de composition élémentaire en moins d'une minute. La technologie des détecteurs est intégrée au SEM et fournit aux utilisateurs une analyse en temps réel. Sa conception de plaque de microcanaux (MCP) et son logiciel intégré de correction d'offset numérique offrent des performances supérieures, même en effectuant diverses analyses à l'échelle du nanomètre. Le détecteur réduit les effets de charge et de bruit, ce qui entraîne de faibles limites de détection et une plus grande précision dans l'analyse des traces et des éléments mineurs. Enfin, PHILIPS Altura 830 offre une multitude de fonctions d'édition, permettant aux utilisateurs d'améliorer les images et d'ajuster facilement la mise au point et le contraste, de supprimer le bruit, de combiner les images et d'ajuster la luminosité et la teinte. Les informations sont affichées sur le moniteur, de sorte que les utilisateurs peuvent facilement modifier les images à leurs spécifications souhaitées. En résumé, Altura 830 est un microscope électronique à balayage spécialement conçu pour la recherche métallurgique et nanométrique complexe. Ses caractéristiques avancées, telles que les véritables capacités à double faisceau, les modes de cartographie chimique et la technologie de détection EDS, fournissent aux utilisateurs une précision et une précision sans précédent pour la recherche et l'analyse.