Occasion PHILIPS / FEI CM 200ST #293673900 à vendre en France

PHILIPS/FEI CM 200ST est un microscope électronique à balayage (SEM) doté d'une capacité de pression variable pour des résultats d'imagerie supérieurs sur des matériaux délicats et souples. Cette technologie à pression variable utilise un flux continu de gaz basse pression pour réduire la charge superficielle tout en fournissant des rendements électroniques secondaires appréciables, permettant ainsi de superbes résultats d'imagerie d'échantillons fragiles. FEI CM 200ST dispose également d'un canon d'émission d'électrons Schottky corrigé de l'aberration unique, permettant la production d'un faisceau d'électrons exceptionnellement basse énergie (jusqu'à 1,7 keV). Cette opération de faible énergie permet l'imagerie d'éléments organiques et légers sans l'utilisation de revêtement conducteur, facilitant ainsi la détection et l'analyse précises des composants élémentaires de l'échantillon. PHILIPS CM 200ST est capable de produire des images haute résolution avec microanalyse aux rayons X et cartographie EDX, ainsi que des capacités d'analyse spectroscopique dans la région entre 20-30 keV. La puissante EDS (spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie) est disponible pour l'analyse élémentaire de la composition à des résolutions telles que 0,7 nm. En plus de la fonction de pression variable, CM 200ST comprend deux puissantes options de stabilisation matérielle et logicielle pour réduire la dégradation de l'image causée par les vibrations et autres perturbations environnementales. Les résultats sont toujours une imagerie de haute qualité, quelles que soient les conditions extérieures. Le microscope est également capable d'un large éventail de fonctions d'imagerie, de l'imagerie topographique classique aux techniques d'imagerie SEM avancées telles que : microscopie électronique à transmission à balayage (STEM), diffraction des rayons X à balayage (XRD), diffraction des faisceaux d'électrons (EBSD) et analyse des images par faisceau d'électrons (EBIA). La gamme d'applications de PHILIPS/FEI CM 200ST comprend la recherche sur les matériaux, l'analyse des semi-conducteurs, la nanotechnologie, la localisation des défauts embarqués, et plus encore. Dans l'ensemble, FEI CM 200ST est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent avec d'excellentes capacités d'imagerie et un large éventail d'options d'application pour les chercheurs et les praticiens. Ce SEM de dernière génération dispose d'un canon à électrons à basse énergie, d'une technologie à pression variable et d'une gamme de techniques d'imagerie avancées qui en font un outil idéal pour capter des informations détaillées sur une variété de spécimens.