Occasion PHILIPS / FEI CM Series #9225196 à vendre en France

PHILIPS/FEI CM Series of scanning electron microscopes est un instrument d'imagerie avancé utilisé pour l'examen de matériaux à très haut grossissement. Ce système d'imagerie avancé est capable de produire des images à haute résolution des structures, des surfaces et des caractéristiques à l'échelle du nanomètre. Cet instrument de pointe peut être utilisé dans divers contextes de recherche, de développement et d'enseignement. FEI CM Series est adapté à une large gamme de types d'échantillons, des particules individuelles aux structures en vrac. Cet instrument de pointe utilise une combinaison unique de technologie électronique-optique et de technologie de balayage pour générer des images à haute résolution. La colonne optique électronique de PHILIPS CM Series fournit des grossissements allant jusqu'à 1000.000x avec une résolution d'angle de 0.2µrad. Cette unité peut être combinée à une gamme de détecteurs d'imagerie, y compris des détecteurs d'électrons secondaires, d'électrons rétrodiffusés (SSB) et d'électrons de transmission (TEM), afin d'obtenir les images d'échantillons les plus détaillées. Grâce à CM Series, les chercheurs sont en mesure d'analyser la structure et la composition d'une gamme de matériaux à des fins de recherche variées, telles que l'examen des processus de corrosion, l'évaluation des couches minces ou l'examen des caractéristiques structurelles telles que les défauts cristallins. De plus, l'unité est adaptée à l'imagerie haute résolution des échantillons biologiques tels que les cellules et les sections tissulaires, permettant une analyse détaillée des structures biologiques. PHILIPS/FEI CM Series est un outil d'imagerie puissant équipé d'une gamme de fonctionnalités avancées. Il s'agit notamment des capacités intégrées de spectrométrie pour la cartographie élémentaire automatisée, des options complètes d'automatisation pour l'alignement et l'imagerie des échantillons, du balayage automatisé avancé pour l'imagerie tridimensionnelle et d'une variété de logiciels conçus pour appuyer l'analyse des échantillons. Dans l'ensemble, FEI CM Series est un système d'imagerie avancé avec des capacités adaptées à un large éventail de projets de recherche et d'applications. Cet instrument offre des images haute résolution avec des capacités spectrométriques et auto-stéréoscopiques, permettant aux chercheurs d'analyser et de comprendre la structure et la composition des échantillons à l'échelle du nanomètre.