Occasion PHILIPS / FEI CM #9255393 à vendre en France

Un PHILIPS/FEI CM est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie et l'analyse de matériaux à l'échelle du nanomètre. En raison de sa haute résolution et de ses capacités de détection sensibles, il peut être utilisé pour une grande variété d'applications telles que la science des matériaux et l'analyse des semi-conducteurs. Le FEI CM est composé de plusieurs composants, dont le canon à électrons, l'étage d'échantillonnage, la chambre à vide et le détecteur. Le canon à électrons émet un faisceau d'électrons qui est alors focalisé sur l'échantillon. L'échantillon est placé sur un étage d'échantillonnage qui se compose d'une plate-forme supportant l'échantillon, d'un étage électrique et d'un porte-échantillon. L'étage d'échantillonnage est alors relié au détecteur qui est typiquement un détecteur d'électrons secondaire ou un détecteur d'électrons rétrodiffusés. Le faisceau d'électrons interagit alors avec l'échantillon et les caractéristiques de surface de l'échantillon sont détectées et projetées sur le détecteur. Les données collectées sont ensuite envoyées au logiciel d'analyse et les images sont produites. PHILIPS CM dispose également d'une chambre à vide qui est utilisée pour éliminer toutes les molécules d'air ou autres contaminants de l'espace entre l'échantillon et le canon à électrons. Cela permet des images à plus haute résolution, ainsi que d'éliminer tout dommage potentiel à l'échantillon causé par les molécules d'air. CM offre également plusieurs fonctionnalités avancées, telles que la possibilité de faire varier l'énergie du faisceau d'électrons, permettant à l'utilisateur d'analyser une gamme de matériaux différents. PHILIPS/FEI CM a également la capacité de collecter des informations élémentaires, ainsi que d'effectuer une variété de tâches d'analyse de surface. Dans l'ensemble, FEI CM est un microscope électronique à balayage très sophistiqué et polyvalent qui peut produire des images extrêmement détaillées de matériaux jusqu'à l'échelle du nanomètre. Son large éventail de caractéristiques en font un choix populaire parmi les scientifiques des matériaux, les fabricants de semi-conducteurs et les chercheurs.