Occasion PHILIPS / FEI CM100 #293587495 à vendre en France

PHILIPS/FEI CM100 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit une imagerie haute résolution et l'analyse d'échantillons dans une gamme d'applications scientifiques ou industrielles. Il utilise un faisceau d'électrons pour exciter un échantillon et les électrons secondaires obtenus sont ensuite détectés et utilisés pour construire une image de l'échantillon. Ce SEM est équipé d'un certain nombre de fonctionnalités qui le rendent particulièrement adapté à une gamme d'applications. FEI CM100 utilise un canon à émission de champ froid pour générer le faisceau d'électrons, fournissant une excellente résolution spatiale jusqu'à 0,8 nm. L'équipement est également équipé d'une alimentation haute tension, permettant d'utiliser une large gamme de tensions de fonctionnement pour l'analyse d'échantillons et l'imagerie. Ce SEM est également équipé d'un détecteur de courant induit par faisceau d'électrons (EBIC), permettant l'imagerie de matériaux semi-conducteurs et isolants sans excitation lumineuse et bruit associé. PHILIPS CM100 est capable de microanalyse élémentaire haute résolution, fournissant des informations de profondeur et de composition exceptionnelles. Le système est équipé à la fois d'un détecteur d'ESB et d'un détecteur secondaire d'électrons, qui peuvent être utilisés pour identifier la surface et la composition élémentaire d'un échantillon. Le détecteur EBIC peut en outre permettre l'imagerie de jonctions p-n, en fournissant une analyse quantitative de la structure et de la composition des circuits de puissance et autres dispositifs semi-conducteurs. CM100 est également équipé d'un spectromètre à rayons X dispersif en énergie (EDS), permettant de compléter l'imagerie par des cartes élémentaires détaillées. La combinaison des détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés et de l'EDS aide à identifier rapidement les caractéristiques et les défauts potentiels d'un échantillon, contribuant ainsi à accélérer le processus d'analyse et d'évaluation. PHILIPS/FEI CM100 propose également une gamme de modes d'imagerie avancés, y compris l'imagerie SEM et STEM. Cela permet l'imagerie haute résolution d'un échantillon sans nécessité de préparation d'échantillon supplémentaire. L'unité est également capable d'automatiser le mouvement de l'étage, permettant d'obtenir et d'analyser rapidement des images de grande surface. FEI CM100 est un microscope électronique à balayage avancé qui est particulièrement adapté pour la recherche et les applications industrielles. La gamme de caractéristiques qui sont inclus avec la machine le rendent bien adapté à l'évaluation et l'analyse des matériaux, ainsi que l'imagerie des structures semi-conductrices et autres dispositifs. Avec une gamme de détecteurs, de modes d'imagerie et d'analyse, PHILIPS CM100 offre des capacités d'imagerie et d'analyse inégalées.