Occasion PHILIPS / FEI CM100 #293616767 à vendre en France
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ID: 293616767
Transmission Electron Microscope (TEM)
Tungsten / LaB6 Filament
Twin lens
Single tilt holder
Power: 100 kV.
PHILIPS/FEI CM100 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui est utilisé pour produire des images à haute résolution de divers échantillons, permettant une analyse visuelle et quantitative des caractéristiques de l'échantillon. Le SEM est un type de microscope électronique qui utilise un faisceau focalisé d'électrons pour examiner la surface des échantillons. Lorsque les électrons interagissent avec l'échantillon, ils produisent une image amplifiée qui peut être observée sur un écran de visualisation. FEI CM100 dispose d'un large éventail de techniques d'imagerie et d'analyse, qui peuvent être appliquées en fonction de l'application et du type d'échantillon. Par exemple, le SEM est capable d'effectuer l'imagerie rétrodiffusée, l'imagerie électronique secondaire et l'analyse de composition. L'imagerie de rétrodiffusion est utilisée pour voir en détail les caractéristiques de surface de l'échantillon. L'imagerie électronique secondaire peut être utilisée pour obtenir des informations sur les structures et la composition internes. L'analyse de composition est utilisée pour étudier la composition matérielle de l'échantillon, afin de déterminer ses propriétés. PHILIPS CM100 SEM propose également une variété de systèmes automatisés capables d'optimiser les paramètres du microscope pour obtenir les meilleurs résultats pour chaque type d'échantillon. Cela inclut un réglage automatisé et un contrôle précis des étapes pour des mouvements lisses. En plus de cela, le SEM dispose d'options pour une isolation précise des vibrations et une manipulation gazeuse externe, permettant une large gamme d'applications. En plus de cela, CM100 SEM offre une gamme de capacités d'édition et d'analyse, permettant aux utilisateurs d'annoter, de zoomer et de mesurer les fonctionnalités sur les images, ainsi que d'effectuer des analyses telles que l'analyse de zone arbitraire, les mesures d'épaisseur de ligne et d'audace, et d'autres tâches d'extraction d'information. Il permet également l'exportation directe des formats de fichiers tels que TIFF, JPG et PNG pour une analyse plus approfondie. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI CM100 SEM est un microscope fiable, robuste et hautement adaptable qui est capable de produire des images haute résolution et l'analyse complète d'une large gamme d'échantillons. Ses systèmes automatisés et ses capacités d'imagerie détaillées le rendent bien adapté à toute application nécessitant des images de haute qualité et une analyse détaillée.
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