Occasion PHILIPS / FEI CM100 #293646003 à vendre en France

PHILIPS/FEI CM100 est un puissant microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir des images précises de divers échantillons. Il est équipé d'une source d'émission de champ Schottky (FE), d'un détecteur d'électrons secondaire, d'un détecteur de rayons X et d'un détecteur STEM. FEI CM100 offre des performances et une flexibilité élevées en matière d'imagerie, de mesures analytiques et de cartographie cristallographique. L'équipement offre une résolution de 3 nm et dispose d'une tension d'accélération réglable de 0,7 à 30 kV, permettant l'imagerie d'une gamme d'échantillons. Le système obtient également une résolution sous-nanométrique ainsi qu'une dynamique de 16 bits, ce qui résout efficacement les caractéristiques des échantillons et les dispositions atomiques potentielles à l'intérieur des échantillons. L'unité comprend à la fois des émissions de champ de Schottky (FEI) et une source d'émissions de champ thermique (TFE). La source Schottky offre un faible courant de seulement 0.15nA et permet un contrôle très précis du faisceau. La source thermique, à son tour, fournit un courant plus élevé allant jusqu'à 20nA pour donner une vitesse d'imagerie plus rapide. Ces deux sources peuvent parcourir jusqu'à 30 kV, assurant une large gamme d'énergies cinétiques possibles pour effectuer des réglages en vol sans avoir à réajuster l'énergie du faisceau. PHILIPS CM100 peut être équipé d'une gamme de détecteurs, y compris un détecteur secondaire d'électrons, un détecteur de rayons X et un détecteur STEM. Le détecteur d'électrons secondaire fournit des images de la couche atomique la plus haute de l'échantillon ; le détecteur de rayons X fournit une image de la distribution des éléments de l'échantillon ; et le détecteur STEM peut fournir des images de différents atomes. CM100 fournit également une analyse des signaux d'électrodes tels que le courant, la tension et le potentiel. Le microscope est livré avec un logiciel de production qui permet à l'utilisateur de stocker des informations et des images pour générer des résultats pour une analyse ultérieure. En outre, la machine offre des solutions d'automatisation, de sorte que l'imagerie ou les mesures analytiques peuvent être répétées, augmentant le débit des échantillons. En résumé, PHILIPS/FEI CM100 est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent capable d'imiter un large éventail d'échantillons avec une résolution sous-nanométrique et une grande précision. Sa tension d'accélération réglable, sa source de FE thermique et Schottky et sa gamme de détecteurs lui donnent de la flexibilité et lui permettent de fournir rapidement et facilement des résultats d'imagerie et d'analyse.