Occasion PHILIPS / FEI CM100 #293673899 à vendre en France

ID: 293673899
Style Vintage: 1996
Transmission Electron Microscope (TEM) Tungsten cathode CCD Camera 1996 vintage.
PHILIPS/FEI CM100 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de matériaux dans les domaines tant de la recherche que de l'industrie. Cet instrument est capable d'une large gamme de modes d'imagerie, y compris les électrons rétrodiffusés, les électrons secondaires, et l'imagerie texturée et de grande surface, ainsi que les rayons X dispersifs en énergie (EDX) et avec une chambre environnementale en option. Ce microscope présente un certain nombre de caractéristiques qui en font un choix idéal pour la recherche et les applications industrielles, comme sa généreuse distance de travail de 36 cm et son étage de plaquettes. Cela permet une configuration et un fonctionnement faciles, permettant aux utilisateurs d'images, d'analyser et de mesurer de grands échantillons jusqu'à 600 mm de diamètre. L'instrument a également un large champ de vision, jusqu'à 40 cm, permettant un fort grossissement et une imagerie complète des échantillons complexes. FEI CM100 est équipé d'un scanner X-Y ultra-rapide qui se combine avec un système de commande de faisceau statique actif pour une image précise et stable. L'instrument dispose également d'une série automatique Tilt avec 3 axes qui permettent aux utilisateurs de basculer des échantillons jusqu'à ± 70 ° et de faire tourner les échantillons 360 ° en une heure. De plus, PHILIPS CM100 est équipé d'un détecteur d'ultra-faible bruit, permettant l'imagerie de caractéristiques d'échantillons à faible contraste ou faiblement diffusés avec clarté et détail. Il dispose également d'un système EDX évolutif, permettant aux utilisateurs d'effectuer une analyse élémentaire. Dans l'ensemble, CM100 est un excellent choix pour l'imagerie haute résolution et l'analyse des matériaux dans les environnements de recherche et industriels. Sa distance de travail généreuse, son champ de vision étendu, sa vitesse de balayage rapide et ses multiples systèmes de détection permettent aux utilisateurs d'obtenir des résultats inégalés, les aidant à découvrir de nouveaux points de vue sur la structure et la composition des matériaux.
Il n'y a pas encore de critiques