Occasion PHILIPS / FEI CM100 #9202885 à vendre en France

ID: 9202885
Transmission Electron Microscope (TEM) With digital image capture system Size: 100 kb Power supply: 100 kV.
PHILIPS/FEI CM100 est un microscope électronique à balayage (SEM) doté d'un ensemble impressionnant conçu pour fournir aux chercheurs des images détaillées de leur spécimen à haute résolution. FEI CM100 est une plate-forme SEM environnementale haute performance thermiquement et vibrationnellement stable qui offre des capacités d'imagerie et d'analyse transversales ultra fines pour un large éventail d'applications. Ses outils d'imagerie avancés, y compris le contrôle de mouvement basé sur un processeur numérique avancé (DSP), l'imagerie numérique-zoom (DIZO) et la fonction de transfert d'image (ISF), permettent une localisation plus rapide et plus précise et une imagerie haute résolution. PHILIPS CM100 utilise deux composantes principales : la colonne SEM et l'étage d'échantillonnage. La puissante colonne SEM contient une source d'électrons avec une tension d'accélération jusqu'à 30kV, une fonction d'automate et de pistolet entièrement automatisée, et un système de traitement de signal numérique (DSP) -driven auto-focus. Ensemble, cette combinaison permet aux chercheurs d'obtenir des images ultra-haute résolution et d'analyser leurs échantillons. L'étage d'échantillonnage comporte un contrôle de la plate-forme et un étage d'échantillon motorisé pour une manipulation précise de l'échantillon. En outre, CM100 est équipé d'un détecteur d'électrons secondaire (SED) pour l'imagerie de surface ainsi que d'un détecteur d'électrons secondaire à faible kV (LKV-SED) pour l'imagerie en coupe transversale. PHILIPS/FEI CM100 propose également plusieurs outils avancés pour l'analyse maximale de votre échantillon. La fonction brevetée MEM-CAD permet aux chercheurs d'imiter et d'accumuler une grande quantité de données provenant du même échantillon en plusieurs étapes rotatives pour une analyse reconstructive 3D efficace. La fonction de corrélation d'image numérique (DIC) améliore encore les performances de FEI CM100 en mesurant avec précision la topographie de surface et les effets de décalage. Enfin, la reconnaissance automatique des fonctionnalités (AFR) garantit que vos données peuvent être analysées avec précision en reconnaissant automatiquement une grande variété de paramètres, ainsi que des statistiques et des capacités d'annotation. En résumé, PHILIPS CM100 est un microscope électronique à balayage avancé qui fournit une qualité d'image inégalée et des outils d'analyse polyvalents. Ses détecteurs hautement sensibles et ses caractéristiques puissantes sont capables de fournir aux chercheurs des images détaillées et des données complètes sur leurs échantillons. CM100 est la plate-forme idéale pour une variété d'applications de recherche.
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