Occasion PHILIPS / FEI CM12 #293649963 à vendre en France

PHILIPS/FEI CM12 Scanning Electron Microscope (SEM) est un équipement de pointe utilisé pour obtenir des images haute résolution d'échantillons à l'échelle nanométrique. Ce système est l'un des microscopes électroniques à balayage les plus puissants actuellement disponibles sur le marché, car il possède plusieurs caractéristiques précises qui permettent d'obtenir des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures. FEI CM12 est équipé d'une optique électronique avancée avec une large plage de grossissement allant jusqu'à 100,000X. Ce microscope est doté d'une technologie innovante de déviation du faisceau magnétique, qui permet des contrôles précis et hautement accélérés de la taille et de la forme des taches d'image. Ce type de contrôle précis est important pour obtenir des images précises et très détaillées du nanomètre. En outre, PHILIPS CM 12 dispose d'une machine sophistiquée d'électrons secondaires, d'électrons rétrodiffusés et de détecteurs de rayons X, ainsi que d'une méthode d'imagerie à grande vitesse qui aide à améliorer la vitesse d'imagerie. Ce microscope intègre également un panneau de préamplification unique qui fournit des rapports signal à bruit améliorés et réduit les niveaux de bruit par rapport aux autres SEM. En outre, CM12 est équipé d'un large éventail de techniques analytiques, telles que l'analyse des rayons X dispersifs d'énergie (EDXA), la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) et l'imagerie par dispositif couplé de charge (CCD). Grâce à ces techniques, l'utilisateur peut identifier, mesurer et analyser un large éventail de matériaux, de l'inorganique à l'organique. FEI CM 12 est conçu avec une gamme de caractéristiques de sécurité avancées, y compris un outil à vide intégral qui maintient des niveaux de vide élevés pendant le fonctionnement, ainsi qu'un détecteur anti-collision qui détecte les objets ou les personnes venant trop près de la chambre à vide. Cela aide à réduire le risque de dommages au microscope et aux échantillons. L'atout visuel de PHILIPS/FEI CM 12 est également très sophistiqué, avec des systèmes avancés de modification, d'analyse et d'annotation d'images. Cela permet à l'utilisateur d'ajuster précisément les images et d'analyser l'échantillon en détail. Dans l'ensemble, PHILIPS CM12 Scanning Electron Microscope est une technologie d'imagerie avancée qui offre des performances supérieures en termes de plage de grossissement, de vitesse d'imagerie et de capacités analytiques. Ses caractéristiques de sécurité en font un choix idéal pour une large gamme d'applications d'imagerie et d'analyse de nanostructures.