Occasion PHILIPS / FEI CM12 #9090827 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI CM12 (SEM) est un dispositif d'imagerie haute performance qui permet aux utilisateurs d'observer et d'analyser la composition de surface des matériaux à des niveaux élevés de grossissement et de résolution. Le SEM offre un large éventail de capacités pour diverses applications de recherche et industrielles, y compris l'inspection d'échantillons et l'analyse approfondie des matériaux. FEI CM12 utilise des faisceaux d'électrons pour créer des images de spécimens de diverses façons, telles que la génération d'électrons secondaires (SE), d'électrons rétrodiffuseurs (BSE) et d'électrons réfléchis. Ces images fournissent des informations précises et détaillées sur les propriétés physiques et chimiques des surfaces et même de petites caractéristiques qui ne peuvent être observées avec la microscopie à la lumière. PHILIPS CM 12 offre une plate-forme d'imagerie numérique grand format, avec une grande chambre supplémentaire, et une capacité de carrelage pour l'observation de grands échantillons. La grande chambre permet aux utilisateurs de visualiser une plus grande zone en haute résolution, et la capacité de carrelage en fait un choix idéal pour la macro et la micro-cartographie d'échantillons. CM 12 offre également un outil automatisé de couture et de mise à l'échelle des images qui peut être utilisé pour combiner plusieurs images en une seule image transparente. Cette fonctionnalité est particulièrement utile pour l'analyse approfondie de grands échantillons, car elle élimine le temps et l'effort requis pour la couture manuelle des échantillons. Le SEM peut également être utilisé pour détecter et cartographier des éléments de surface sur un échantillon par spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS). Cette technique permet aux utilisateurs d'identifier et de mesurer les traces d'éléments dans un échantillon avec une grande précision. Le système EDS est équipé d'un logiciel intégré qui offre plusieurs fonctionnalités avancées pour l'analyse quantitative et qualitative, avec la capacité d'effectuer des analyses encore plus complexes et le traitement des données. PHILIPS CM12 offre une résolution maximale de 1,2 nm/pixel en mode électron secondaire et de 0,63 nm/pixel en mode électron réfléchi. Le détecteur SE est encore amélioré avec un mode basse tension et un réseau de détecteurs dédiés pour une variété d'applications. Ce système SEM est facile à utiliser et offre des performances robustes et fiables soutenues par un excellent service client et un support de formation. Que vous soyez un laboratoire de recherche et développement, un service d'assurance de la qualité ou une ligne de procédés industriels, le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI CM 12 peut vous aider à mieux comprendre la composition des matériaux pour une meilleure performance des produits et des économies de coûts.