Occasion PHILIPS / FEI CM12 #9315596 à vendre en France
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ID: 9315596
Style Vintage: 1990
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM)
Gun: Tungsten / LaB6
Energy: 20 Kv to 120 Kv
Point resolution: 0.34 nm
Lattice resolution: 0.20 nm
STEM Magnification: 70x to 510,000x
TEM Magnification: 100x to 800,000x
Minimum focused probe: 2 nm
1990 vintage.
PHILIPS/FEI CM12 est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) couramment utilisé dans le domaine de la science des matériaux et de l'ingénierie des matériaux. C'est un type de microscope électronique qui utilise des électrons chargés de champ pour représenter la surface d'un matériau d'échantillon. Ce type de microscope électronique permet une imagerie à plus haute résolution par rapport à d'autres types plus traditionnels de microscopes électroniques, tels que le microscope électronique à transmission (TEM). FEI CM12 est équipé d'un canon à électrons à émission de champ ultra-stable (FEG) qui permet une imagerie haute résolution. La FEG consiste en un filament de tungstène qui chauffe et émet des électrons lorsqu'une tension est appliquée, créant une image du matériau de l'échantillon qui est d'une résolution supérieure à celle produite par le TEM. PHILIPS CM 12 utilise un certain nombre d'autres fonctionnalités et composants pour produire une image. Il s'agit notamment d'un équipement d'auto-focalisation, d'un système d'auto-nivellement, d'une bobine de déflecteur sphérique, d'un changeur d'échantillon à entrée supérieure et d'une colonne à haut grossissement à basse tension. L'unité auto-focus utilise un détecteur micro-sensible pour ajuster la focalisation du faisceau d'électrons afin d'améliorer la résolution de l'image. La machine d'auto-nivellement assure que l'étape de spécimen du microscope est toujours de niveau et stable, ce qui contribue à maintenir un niveau de résolution constant. La bobine de déflecteur sphérique utilise un électro-aimant pour régler la direction du faisceau d'électrons, en fournissant la résolution la plus élevée possible. Le changeur de spécimen à entrée supérieure permet de changer rapidement et facilement le matériau de l'échantillon au milieu du processus d'imagerie. Cela permet de repositionner facilement les échantillons et de s'assurer qu'il n'y a pas d'interruption du processus d'imagerie. La colonne à haut grossissement basse tension permet l'imagerie à haute résolution d'échantillons à une tension relativement faible. Dans l'ensemble, PHILIPS CM12 est un microscope électronique à balayage de pointe qui offre une imagerie haute résolution et un certain nombre de fonctionnalités qui en font un choix idéal pour la science des matériaux et les applications d'ingénierie des matériaux. C'est un outil précieux qui permet aux scientifiques d'acquérir une compréhension approfondie des matériaux qu'ils étudient.
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