Occasion PHILIPS / FEI CM120 #9359285 à vendre en France

PHILIPS/FEI CM120 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour une gamme de recherches et d'applications industrielles. Il est réputé pour sa résolution d'imagerie supérieure et sa profondeur de focalisation. FEI CM120 fait partie de la gamme haut de gamme de SEM FEI, offrant les dernières fonctionnalités, y compris la correction de dérive pour améliorer la stabilité de l'imagerie et le contrôle tactile intuitif pour ajuster et optimiser les paramètres de configuration. PHILIPS CM 120 utilise un canon à émission de champ (FEG) qui produit un faisceau focalisé d'électrons de haute qualité qui permet une résolution de 1,5 nm. Cela permet de générer des images avec un contraste élevé et des détails de surface. Le système comprend également un grand détecteur E pour générer des images d'électrons secondaires et rétrodiffusées de haute qualité. Ces caractéristiques, combinées à la mini-colonne corrigée par la sonde, entraînent la production d'images acérées d'objets jusqu'à l'échelle atomique. PHILIPS/FEI CM 120 est équipé d'une gamme de logiciels pour guider le fonctionnement du microscope. Cela comprend des outils pour optimiser l'acquisition de données et l'analyse d'images et pour gérer des tâches telles que la préparation d'échantillons et le stockage de données. PHILIPS CM120 est équipé pour effectuer différents types d'imagerie. L'imagerie SEM traditionnelle peut être utilisée pour la topographie de surface et l'imagerie haute résolution. L'imagerie à faisceau bas est utilisée pour générer des images de structure de grains et de cristaux, tandis que l'imagerie à faisceau haut est utilisée pour produire des images de contraste élevé et des cartes élémentaires. De plus, le CM 120 est équipé pour la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS), qui est utilisée pour les analyses chimiques d'échantillons. Un microscope infrarouge (IRM) peut être ajouté pour l'imagerie infrarouge et l'analyse thermique. Enfin, le FEI CM 120 peut être utilisé pour l'inspection et l'arpentage automatisés et pour le contrôle général de la qualité. Il peut être utilisé pour l'évaluation de l'épaisseur du film, des dimensions, de la topographie de surface, des défauts et de la composition élémentaire. Le système est capable d'une précision de sous-microns et peut être utilisé pour un large éventail d'applications, des composants électroniques aux dispositifs et matériaux médicaux.