Occasion PHILIPS / FEI CM120 #9371673 à vendre en France

PHILIPS/FEI CM120 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre une imagerie haute résolution et l'analyse de structures nano-échelle. Ce SEM dispose d'une conception de colonne électronique avec un déflecteur unique qui permet un balayage rapide et une imagerie haute résolution à une tension inférieure à celle des modèles concurrents. De plus, l'unité est équipée d'un système automatique d'alignement grossier, réduisant le temps nécessaire à un alignement typique de la poutre. Le système numérique équipé en FEI CM120 offre des résolutions d'acquisition et d'affichage d'images allant jusqu'à 2048x2048 pixels et un module 5Kw cathodoluminescence (CL), offrant un plus grand contraste pour les structures nanométriques. PHILIPS CM 120 a la plus haute résolution d'un SEM dans sa catégorie en raison de sa technologie propriétaire MULTIBEAM™. Cette technologie permet un balayage simultané sur plusieurs points, ce qui donne une résolution plus élevée que les méthodes traditionnelles de balayage à un seul point. La technologie MULTIBEAM est également utilisée pour l'imagerie CL qui permet une analyse plus approfondie des nanostructures, révélant plus de détails que les méthodes de balayage traditionnelles. FEI CM 120 comprend des capacités intégrées de traitement d'image qui permettent aux utilisateurs d'analyser et de documenter leurs résultats en temps réel. Cette caractéristique est particulièrement utile pour établir une base quantitative pour caractériser les structures fines. Le SEM dispose également d'un guide lumineux LED bleu qui permet une navigation plus facile de la chambre de spécimen. Cette LED éclaire l'intérieur de la chambre, offrant une vue plus claire de l'échantillon. De plus, PHILIPS CM120 offre un fonctionnement intuitif grâce à son interface graphique conviviale et à plusieurs options intégrées de contrôle logiciel, ce qui rend l'unité facile à utiliser pour les utilisateurs expérimentés et novices. En plus de ses capacités d'imagerie exceptionnelles, CM120 offre des accessoires optionnels qui améliorent encore son expérience utilisateur. Il s'agit notamment d'un spectromètre à haute sensibilité aux rayons X, d'un étage d'échantillons à haute résolution et de diverses configurations de caméras pour un large éventail d'applications. Toutes ces fonctionnalités combinées font de PHILIPS/FEI CM 120 une solution SEM fiable et productive, offrant une imagerie haute résolution et des performances inégalées.