Occasion PHILIPS / FEI CM20 #293766563 à vendre en France

PHILIPS/FEI CM20 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit une imagerie stable à haute résolution des échantillons à l'échelle du nanomètre. Il est conçu pour être un instrument d'imagerie polyvalent, adapté à une variété d'applications, y compris la science des matériaux, la biologie et l'analyse des défaillances des semi-conducteurs. FEI CM20 est équipé d'une source d'émission de champ à grande surface pour des rendements électroniques plus élevés, d'un système à vide élevé qui fournit un environnement d'imagerie à basse pression et d'une chambre de transfert à vide élevé pour l'observation à vide faible. Le SEM est également équipé d'une caméra optique avec des capacités d'inter-comparaison des couleurs. PHILIPS CM 20 dispose de capacités d'imagerie haute performance incluant champ lumineux, champ sombre et contraste d'interférence différentiel (DIC). Son système de vide avancé permet l'observation avec des modes d'imagerie haute et basse dépression. Le champ d'application utilise également des filtres d'énergie rétrodiffusés sur l'axe et hors de l'axe pour des informations spécifiques d'identification et de composition des isotopes, tandis que les longueurs variables des opérations d'impulsions d'électrons réduisent la charge de surface lors de l'imagerie haute résolution. PHILIPS CM20 est conçu pour fonctionner avec une variété de détecteurs, y compris un détecteur de réseau pour l'imagerie à grande surface et à haut débit, ainsi qu'un détecteur d'électrons secondaire qui permet l'imagerie simultanée de la topographie et de la composition. FEI CM 20 dispose également de la capacité d'acquérir des images automatisées dans les modes à vide faible et élevé, permettant l'imagerie 3D sophistiquée et l'analyse des caractéristiques de surface des échantillons. D'autres caractéristiques d'imagerie consistent en une manipulation arbitraire de l'angle d'inclinaison et une manipulation automatique de l'étape d'échantillonnage pour le balayage d'images à des angles variables. Le SEM est également équipé d'un détecteur EDX pour l'analyse élémentaire combiné à un logiciel intégré de microanalyse qui fournit des données d'imagerie multidimensionnelles qui peuvent être utilisées pour analyser la composition chimique et la structure élémentaire des échantillons. Enfin, PHILIPS/FEI CM 20 est équipé d'une grande variété d'accessoires dont un appareil de lithographie à faisceau E, un porte-échantillons à large gamme, un détecteur d'électrons secondaire, et un système d'alignement et d'autofocus de canon. Ces accessoires, combinés aux capacités d'imagerie haute résolution de CM 20, permettent une variété d'applications, de l'analyse des défaillances des semi-conducteurs aux études en science des matériaux.