Occasion PHILIPS / FEI CM200 FEG #293639217 à vendre en France

PHILIPS/FEI CM200 FEG est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre aux utilisateurs un moyen efficace d'étudier des échantillons microscopiques. Le SEM utilise la cathodoluminescence pour photographier simultanément des échantillons en utilisant à la fois des détecteurs d'électrons secondaires standard et des détecteurs de rayons X à couches minces. Le microscope est alimenté par un canon à émission de champ (FEG) qui dispense un faisceau focalisé d'électrons pour imiter rapidement des échantillons de petites tailles en détail. Ce matériel d'imagerie fiable est parfait pour analyser les microstructures, offrant un niveau de détail sans précédent par rapport aux autres systèmes d'imagerie. Les capacités d'acquisition de données à grande vitesse de FEI CM200 FEG sont idéales pour la recherche en sciences physiques et en semi-conducteurs. Les capacités de double tireur du SEM offrent une solution d'imagerie simultanée pour les prises de vue de surface supérieure et inférieure, ce qui élimine le long mouvement d'étage de l'échantillon. Le SEM a une faible tension d'accélération de 1-2 kV qui sert en outre à minimiser les effets de charge. PHILIPS CM200 FEG est équipé d'un système d'imagerie numérique haute résolution. L'unité contient un calculateur interne et un détecteur électronique secondaire capable de capturer des images 2D haute résolution d'échantillons placés sur la scène, pour des mesures et des analyses approfondies. Il contient également une machine automatique d'alignement des échantillons pour fournir jusqu'à 1 micron de résolution et orienter les échantillons dans des mouvements circulaires jusqu'à 8 mm de diamètre. CM200 FEG dispose également d'un étage automatisé avec une plage de mouvement de 600 mm x 600 mm. L'étage est capable d'assurer des mouvements latéraux précis et une répétabilité de position basculante. Cela permet au SEM de se déplacer avec précision sur de grandes surfaces et assure un contrôle précis du microscope tout en conservant une stabilité supérieure. Le dispositif comporte également des éléments de refroidissement sur l'étage d'échantillonnage et le détecteur secondaire d'électrons, qui stabilisent l'environnement du SEM et réduisent les fluctuations thermiques. PHILIPS/FEI CM200 FEG est également livré avec un logiciel de pointe pour l'acquisition et le contrôle précis des données, et un scanner d'image automatisé. Le scanner d'images permet un contrôle précis de l'outil de déflexion du faisceau d'électrons qui est utilisé pour localiser et analyser automatiquement les matériaux à l'intérieur des échantillons. Cela fournit un moyen efficace pour les scientifiques d'étudier et d'analyser plusieurs régions d'un échantillon en un seul balayage. En outre, le logiciel sophistiqué offre à l'utilisateur une interface simplifiée pour contrôler leurs mesures et filtrer tout bruit. FEI CM200 FEG est l'outil parfait pour analyser les échantillons microscopiques en raison de sa multitude de fonctionnalités et de ses capacités technologiques avancées. Il fournit une imagerie précise à haute résolution, un mouvement de scène efficace et des capacités logicielles automatisées pour rendre l'analyse d'échantillons plus efficace et précise. Avec ses nombreuses fonctionnalités et ses atouts d'imagerie fiables, PHILIPS CM200 FEG est la solution idéale pour tout laboratoire.