Occasion PHILIPS / FEI CM200 #293610665 à vendre en France

PHILIPS/FEI CM200 est un microscope électronique à balayage à tension intermédiaire compatible avec une gamme de détecteurs d'électrons, tels qu'un Everhart-Thornley et des filtres d'imagerie. Ce microscope électronique à balayage est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) et d'une optique de champ lumineux pour obtenir une résolution plus élevée. Cet instrument a une tension d'accélération maximale pouvant atteindre 200 kV, ce qui permet l'imagerie et l'analyse précises d'échantillons dans différents domaines. La FEG de FEI CM200 est alimentée par un émetteur refroidi à l'azote liquide pour réduire la charge. Ceci permet un fonctionnement stable avec un contrôle précis de la dose et de la luminosité, ce qui rend cet instrument adapté à toute une gamme d'applications. Les lentilles FE classiques sont activées avec des magnétrons coaxiaux de haute qualité utilisant des champs magnétiques pour focaliser les électrons. Pour l'image et l'analyse des échantillons, PHILIPS CM 200 comprend une gamme de détecteurs intégrés, tels qu'un détecteur secondaire d'électrons (SE). Ce détecteur fournit un aperçu qualitatif des échantillons, capturant des images de caractéristiques telles que la rugosité de surface. Le détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED) est équipé pour permettre l'analyse quantitative d'échantillons, fournissant des mesures de caractéristiques critiques telles que la composition élémentaire. Pour les échantillons d'image avec PHILIPS CM200, une étape d'ultra-précision et de réponse rapide est incluse. Les commandes sont motorisées et peuvent manipuler les échantillons dans une plage de mouvement de 6 axes. Ceci permet l'imagerie dynamique et l'alignement des échantillons, atteignant l'échelle nm. Un spectromètre intégré d'énergie des rayons X est également inclus dans cet instrument pour cartographier la distribution élémentaire dans l'échantillon. En plus de la manipulation et de l'imagerie des échantillons, CM 200 est capable d'analyser les échantillons au niveau matériel et structurel. Pour ce faire, on combine les capacités d'imagerie des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des rayons X. L'analyse spectroscopique peut être effectuée pour inspecter les échantillons, en fournissant des informations sur leur structure et les interactions entre la matière et les électrons. FEI CM 200 offre une stabilité et un contrôle conviviaux, ce qui fait de ce microscope électronique à balayage un choix idéal pour une variété d'applications de recherche et d'enseignement. Il dispose d'un panneau de commande intuitif et d'une large gamme de modes d'imagerie. Ceci permet de capturer plusieurs images d'échantillons dans différentes zones de l'échantillon, assurant une vue d'ensemble complète.