Occasion PHILIPS / FEI CM200 #293639843 à vendre en France

ID: 293639843
FEG System.
PHILIPS/FEI CM200 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) qui fournit une imagerie polyvalente et performante. Contrairement aux systèmes SEM traditionnels, ce microscope offre un très haut degré de précision et de précision, permettant aux chercheurs d'observer les microstructures internes d'un large éventail de matériaux. FEI CM200 utilise un détecteur d'électrons secondaire haute résolution et un équipement d'imagerie de source Zeiss pour produire des images haute résolution et contrastées. De plus, le système est capable d'utiliser une chambre de réaction pour apparaître graphiquement, graver et déposer des matériaux pour une analyse plus approfondie. La principale caractéristique de PHILIPS CM 200 est sa résolution extrêmement élevée. Couplée aux systèmes d'imagerie Zeiss, la résolution de l'image peut atteindre 3000x mieux que les microscopes optiques traditionnels, permettant aux chercheurs d'étudier les structures à l'échelle nanométrique. L'unité de détection offre un champ de vision de plus de 1 micromètres, permettant aux chercheurs de visualiser des objets avec un haut degré de détail et de les agrandir jusqu'à 100, 000x leur taille originale. En plus de ses excellentes capacités d'imagerie, CM200 dispose d'une gamme de fonctionnalités pour faciliter l'analyse des échantillons. La machine est capable de contrôler la tension et la pression du faisceau du canon à électrons primaire, fournit des fonctions telles que le contraste/l'amélioration, et peut être ajustée pour fournir une variété de modes d'imagerie haute résolution y compris un mode d'imagerie à haute acuité rétrodiffusée (ESB) pour l'examen de surfaces non contaminées. Il soutient également un large éventail d'outils d'automatisation pour aider les chercheurs à gérer leurs expériences. PHILIPS/FEI CM 200 offre un large éventail d'avantages par rapport aux autres SEM. Grâce à ses capacités d'imagerie haute résolution, il permet aux chercheurs d'étudier des objets microscopiques avec une précision et un détail inégalés. Ses outils automatisés permettent également aux chercheurs de mieux contrôler leurs expériences. L'outil comprend également une chambre de réaction, permettant aux utilisateurs d'explorer le traitement et le dépôt des semi-conducteurs pour une analyse plus approfondie. Dans l'ensemble, le FEI CM 200 est un puissant microscope électronique à balayage qui offre aux chercheurs un outil incroyablement précis pour étudier les matériaux. Sa haute résolution et sa gamme de fonctionnalités automatisées en font un choix idéal pour un large éventail de tâches de recherche.
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