Occasion PHILIPS / FEI CM200 #293774069 à vendre en France

PHILIPS/FEI CM200 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) largement utilisé dans diverses applications de recherche et industrielles. Grâce à ses capacités d'imagerie avancées et à ses outils d'analyse précis, FEI CM200 offre aux chercheurs et aux scientifiques la capacité d'étudier un large éventail d'échantillons avec une haute résolution et précision. PHILIPS CM 200 est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) source d'électrons, qui fournit un faisceau d'électrons très stable et intense pour l'imagerie et l'analyse. La source d'électrons FEG offre une luminosité et une cohérence supérieures, ce qui améliore la résolution d'imagerie et le rapport signal sur bruit par rapport aux sources d'électrons thermioniques classiques. Cela permet à PHILIPS CM200 d'obtenir une imagerie haute résolution des échantillons à l'échelle nanométrique. Une des caractéristiques clés de PHILIPS/FEI CM 200 est ses capacités d'imagerie haute résolution. Avec une résolution maximale de 0,6 nanomètres à 30 kilovolts, CM200 peut capturer des images détaillées de surfaces d'échantillons avec une clarté et une précision exceptionnelles. Cette haute résolution est essentielle pour étudier les structures fines, la morphologie de surface et la composition élémentaire de divers matériaux. En plus de l'imagerie, CM 200 est équipé d'une gamme d'outils d'analyse qui permettent aux chercheurs d'effectuer une caractérisation et une analyse détaillées des échantillons. FEI CM 200 est capable de spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS), ce qui permet aux chercheurs d'identifier les éléments présents dans l'échantillon et de cartographier leur distribution avec une haute résolution spatiale. Ceci est précieux pour l'analyse élémentaire, l'identification des impuretés et l'étude des compositions chimiques des matériaux. De plus, PHILIPS/FEI CM200 dispose de capacités de diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD), qui fournissent des informations sur les orientations cristallographiques, les limites des grains et les transformations de phase dans les matériaux. EBSD est une technique puissante pour étudier la microstructure et les propriétés mécaniques des matériaux, ce qui en fait un outil précieux pour la recherche en sciences des matériaux et en métallurgie. FEI CM200 offre également des capacités de lithographie par faisceau d'électrons (EBL), permettant aux chercheurs de fabriquer des nanostructures et des motifs directement sur des surfaces d'échantillons. Cette caractéristique est essentielle pour la création de dispositifs et de composants avancés dans les nanotechnologies et les industries des semi-conducteurs. PHILIPS CM 200 est équipé d'une interface utilisateur intuitive et d'un logiciel qui facilite le fonctionnement et l'analyse des données. Les chercheurs peuvent contrôler les paramètres du microscope, acquérir des images, effectuer des analyses et générer des rapports efficacement en utilisant l'interface du logiciel. Le logiciel PHILIPS CM200 fournit également des outils avancés de traitement d'image, tels que le filtrage, la mesure et la reconstruction 3D, pour améliorer l'interprétation et la visualisation des données. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI CM 200 est un microscope électronique à balayage polyvalent et puissant qui offre une imagerie haute résolution, des capacités analytiques précises et des fonctionnalités avancées pour un large éventail d'applications de recherche. Avec ses performances supérieures et son interface conviviale, CM200 est un outil essentiel pour les études scientifiques en sciences des matériaux, nanotechnologie, biologie, géologie, et de nombreuses autres disciplines.