Occasion PHILIPS / FEI CM200 #9189104 à vendre en France
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Vendu
ID: 9189104
Transmission electron microscope (TEM)
Accelerating voltage: 40-200kV
LaB6 / Tungsten emitter
Twin objective lens.
PHILIPS/FEI CM200 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour la caractérisation fiable des matériaux jusqu'à des résolutions de niveau nanométrique. Sa technologie d'imagerie de pointe offre un ensemble complet d'outils d'analyse pour étudier les matériaux biologiques et industriels. FEI CM200 utilise une source d'électrons avec un filament, chauffé pour émettre des électrons dans une chambre à vide. Pour obtenir des images avec la plus haute résolution et le meilleur contraste, une bobine de balayage est utilisée, où un faisceau d'électrons est balayé à travers l'échantillon. En plus de la formation dynamique de l'image, des données peuvent être recueillies auprès de divers détecteurs pour analyser l'information de composition de la surface de l'échantillon. Le SEM permet une large gamme de capacités d'imagerie, de la résolution limitée aux lentilles à la cartographie élémentaire de surface. Toutes les options d'imagerie sont conçues pour faciliter une analyse rapide et de haute précision. Sa résolution d'image au plus haut grossissement atteint jusqu'à 1 nanomètre, avec une interface utilisateur intuitive pour faciliter le fonctionnement. PHILIPS CM 200 utilise une technologie d'étage automatisée avancée pour un positionnement autonome précis de l'échantillon, afin qu'il puisse ajuster rapidement sa position et capturer de grands tableaux d'images pour générer une vue d'ensemble complète. Ses options de tomographie à 5 axes permettent d'incliner l'échantillon et de le faire tourner sous différents angles pour l'imagerie tridimensionnelle. Il supporte également la corrélation pour la double imagerie, qui compare deux types différents d'images l'un à l'autre. En plus de l'imagerie, CM200 offre une foule d'outils d'analyse pour caractériser davantage les spécimens. Il s'agit notamment de la spectroscopie à rayons X dispersifs en énergie (EDS), de la spectroscopie à rayons X dispersifs en longueur d'onde (WDS) et de la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD). EDS et WDS permettent une analyse élémentaire et une cartographie précises, et EBSD fournit des informations sur la structure cristallographique. PHILIPS/FEI CM 200 est un puissant microscope électronique à balayage conçu pour analyser une gamme de matériaux au niveau du nanomètre. Sa capacité d'imagerie avancée, associée à des outils analytiques complets, en font un outil approprié pour une variété d'applications de recherche.
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