Occasion PHILIPS / FEI CM200 #9232065 à vendre en France

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ID: 9232065
Transmission Electron Microscope (TEM) Supertwin scanning: 200 kV Analytical imaging Diffraction CBED Low aberration Symmetrical twin lens Ion pumped column EDAX EDS Analysis system GATAN CCD Camera for digital imaging (Model: 832.P20U0) UNIVERSAL Wehnelt for W or LaB6 filaments Specimen stage: 5-axis Eucentric goniometer: +/- 40° Chiller Supported by house air supply Does not include compressor.
PHILIPS/FEI CM200 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications avancées d'imagerie et d'analyse. Il est largement utilisé pour l'imagerie nanométrique et l'analyse de surface sous microns. Dotée d'une source d'électrons émettant 200 kV, FEI CM200 peut fournir une imagerie haute résolution tout en réduisant l'astigmatisme. Son détecteur ClearCMOS™ fournit simultanément des électrons secondaires et rétrodiffusés pour l'imagerie multi-canaux, permettant un rapport signal/bruit plus rapide et une meilleure qualité de données. PHILIPS CM 200 dispose d'une fonction d'auto-contraste unique pour améliorer la qualité de l'image, permettant aux utilisateurs d'analyser des échantillons sans connaissance préalable du matériau ou de ses caractéristiques. CM 200 est conçu avec des capacités de calcul avancées, permettant aux scientifiques et aux ingénieurs de capturer des images plus rapidement et avec une plus grande précision. Le microscope dispose d'un balayage X, Y à grande vitesse, d'une large gamme de balayages Z et d'un taux de balayage maximal allant jusqu'à 1KHz. L'imagerie stéréoscopique, l'imagerie de surface 3D et les multiples modalités d'imagerie sont également prises en charge. PHILIPS CM200 est conçu pour répondre aux besoins d'une grande variété d'analyses de matériaux, y compris l'analyse des défaillances des semi-conducteurs, la caractérisation 3D avancée de la surface, la localisation et l'analyse des défauts et l'imagerie des courants de fuite. Les technologies d'automatisation avancées du CM200 simplifient le chargement et l'alignement des échantillons, ce qui permet aux utilisateurs d'afficher jusqu'à vingt-quatre échantillons en une seule session. En plus de ses capacités d'imagerie, le PhilipPHILIPS/FEI CM 200 offre une grande variété de capacités d'analyse, y compris l'analyse élémentaire, la cartographie de la composition chimique, la surveillance des précipitations et plus encore. Le microscope supporte également une gamme variée de détecteurs, offrant aux utilisateurs la flexibilité de choisir le bon détecteur pour des applications spécifiques. FEI CM 200 est un microscope électronique à balayage avancé qui fournit des capacités d'imagerie et d'analyse avancées pour une grande variété d'applications. Sa conception automatisée le rend facile à utiliser et ses capacités avancées en font un choix idéal pour atteindre la plus haute résolution des images et une analyse précise des échantillons.
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