Occasion PHILIPS / FEI DB237 #293620721 à vendre en France

PHILIPS/FEI DB237 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé dans l'étude des structures et surfaces microscopiques. Il est équipé d'une cathode à haute résolution, à émission de champ, qui produit un faisceau d'électrons de haute énergie et de petit diamètre, permettant une imagerie facile et précise de l'échantillon. Le faisceau d'électrons est dirigé vers l'échantillon situé sur un porte-échantillon semimagnétique, permettant une large gamme d'angles d'inclinaison et donnant à l'utilisateur la possibilité d'observer les caractéristiques de l'échantillon sous différents angles. De plus, l'équipement comprend un détecteur d'électrons secondaires et rétrodiffusés (ESB), qui fournit des informations sur la structure des matériaux à l'échelle du nanomètre. Ceci, combiné à la capacité de collecter des électrons du faisceau primaire d'électrons, permet à l'utilisateur de mesurer la topographie de surface avec une résolution au niveau atomique. D'autres caractéristiques du système incluent le traitement vidéo d'images numériques pour l'élargissement, le pannage et la moyenne des pixels. Par ailleurs, la FEI DB237 propose des modes à vide faible qui permettent l'imagerie de matériaux non conducteurs tels que des échantillons biologiques et des polymères. L'unité propose également une spectrométrie de filtrage de l'énergie en colonne (EELS) pour la cartographie élémentaire et l'imagerie chimique, ce qui la rend apte à diverses tâches de recherche. Le logiciel intégré améliore encore les capacités de PHILIPS DB237, offrant à l'utilisateur différents outils pour l'analyse d'image, la reconstruction 3D de surface, l'analyse quantitative et la manipulation d'image. L'interface graphique intuitive de la machine simplifie son fonctionnement, permettant aux chercheurs d'utiliser au mieux ce SEM. En conclusion, DB237 est un SEM compact de haute performance qui permet aux utilisateurs d'observer et d'analyser des échantillons au niveau atomique. Il combine un faisceau d'électrons haute résolution, un détecteur d'ESB et un logiciel intégré pour donner aux chercheurs la capacité d'effectuer des tâches de topographie de surface et de cartographie élémentaire avec une résolution à l'échelle du nanomètre.