Occasion PHILIPS / FEI EM 400 #9298535 à vendre en France
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ID: 9298535
Transmission Electron Microscope (TEM)
Twin lens with STEM / TEM
Resolution: 2.04 Angstrom.
Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI EM 400 (SEM) est un puissant outil d'investigation qui permet de visualiser et d'analyser des microstructures à ultra haute résolution. Il utilise diverses techniques d'imagerie, y compris l'imagerie électronique rétrodiffusée (IESB), l'imagerie électronique secondaire (IES) et l'EDX (spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie). En combinant les capacités de ces trois techniques, FEI EM 400 est en mesure de fournir aux chercheurs une mine d'informations détaillées sur la composition et la morphologie d'un échantillon. PHILIPS EM 400 dispose d'un détecteur d'électrons de style VGA ultra haute résolution, conçu spécifiquement pour la microscopie électronique à balayage. Ce détecteur est utilisé en combinaison avec un nouveau système de balayage rapide, qui permet l'acquisition d'une large gamme de types d'images en quelques secondes. Il est capable de traiter des échantillons à des vitesses allant jusqu'à 1 200 images par seconde en mode haute résolution, ou 3 500 images par seconde en mode moyenne résolution. De plus, l'EM 400 est équipé d'un alignement avancé des étages micrométriques, permettant une orientation et un positionnement précis des échantillons. Pour des performances d'imagerie exceptionnelles, le PHILIPS/FEI EM 400 est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) de pointe. Cette FEG fournit aux utilisateurs un flux élevé d'électrons, ce qui améliore le contraste d'image et une résolution supérieure. De plus, son optique monocristalline de pointe offre une luminosité d'image optimale, une coopération et une uniformité. En outre, le microscope est capable de fonctionner dans des conditions variables de pression de vide, allant de 30 à 0,5 Pa. Le FEI EM 400 est également livré avec plusieurs caractéristiques exclusives qui permettent aux utilisateurs d'optimiser les performances de leur instrument. Il s'agit notamment du Digital Image Acquisition System (DIAS), qui offre une puissante suite de traitement d'image qui peut corriger le contraste, mesurer les dimensions des échantillons et transférer des images du microscope vers un PC distant. De plus, le microscope est équipé d'un détecteur intégré de source d'émission de champ thermique (TFES), qui permet un positionnement précis de l'étage de l'échantillon, ce qui permet une meilleure acquisition d'image. En conclusion, PHILIPS EM 400 est un microscope électronique à balayage extrêmement polyvalent qui combine la puissance des techniques d'imagerie avancées et des composants optiques électroniques avancés pour donner aux chercheurs une vue détaillée de leurs échantillons. En utilisant son pistolet à émission de champ, sa monocristalline optique et sa gamme de caractéristiques exclusives, les utilisateurs peuvent optimiser les performances de la machine pour acquérir des images de haute qualité avec un minimum d'effort.
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