Occasion PHILIPS / FEI EM 400T #9257475 à vendre en France

ID: 9257475
Transmission Electron Microscope (TEM), parts machine Multi-axis specimen holders (19) Nozzles (4) Metal mesh filter tubes (2) Extender cards CCD Cameras Pre-vac gauges Lens regulator HIVAS Gauges Evaluation electronics Sensors Image processing unit Circuit boards Spare parts Manuals included.
PHILIPS/FEI EM 400T est un microscope électronique à balayage d'émission de champ dédié (TFE-SEM) utilisé pour l'imagerie et la caractérisation d'échantillons à l'échelle nanométrique. Il a une conception modulaire qui permet de personnaliser les besoins de l'utilisateur. Le FEI EM 400T est équipé d'une source d'électrons à balayage de pôles plats de 200 mm, d'une source d'électrons à balayage de pôles sphériques de 25 mm de puissance élevée et d'un équipement d'alignement de canon à basse énergie de haute précision. Il est également équipé d'un système innovant d'alignement du canon à double inclinaison dans la lentille qui permet de changer facilement l'inclinaison et la focalisation du faisceau d'électrons. PHILIPS EM 400T offre une technologie avancée d'émission sur le terrain permettant une imagerie rapide et précise. Il est conçu avec un grand champ d'image et comprend un appareil photo numérique de 16 mégapixels qui peut capturer des images jusqu'à 4K résolution. EM 400T a une distance de travail maximale de 10 mm et une résolution de 1,2 nm. Il dispose également d'une unité d'échange automatisé d'échantillons qui permet de scanner plusieurs échantillons sans interruption. PHILIPS/FEI EM 400T offre une gamme impressionnante de capacités d'imagerie incluant les électrons rétrodiffusés (ESB), les électrons secondaires (SE), la spectrométrie à rayons X dispersifs d'énergie (EDS), la cathodoluminescence (CL) et l'imagerie à large spectre (BSI). Il dispose également d'une large gamme de contrôles d'intensité et de filtres. L'étage d'échantillonnage ultra-stable et le porte-échantillon de l'instrument offrent une excellente isolation des vibrations et une grande précision de positionnement et d'alignement des échantillons. FEI EM 400T comprend une machine de commande intégrée basée sur PC avec une interface logicielle intuitive. Cet outil fournit un ensemble complet d'outils pour créer des images de haute qualité, tels que des contrôles de contraste et de seuil, une moyenne d'image et des capacités de piquage d'image. Il est également équipé d'outils automatisés de préparation d'échantillons, permettant aux utilisateurs de préparer rapidement l'échantillon pour l'imagerie. Dans l'ensemble, PHILIPS EM 400T est un instrument idéal pour étudier un large éventail d'échantillons à l'échelle nanométrique, tels que les minéraux, les nanoparticules, les matériaux andphotovoltaïques. Avec sa technologie innovante d'émission sur le terrain, sa gamme de capacités d'imagerie et ses outils automatisés de préparation d'échantillons, EM 400T offre des performances exceptionnelles d'imagerie et de caractérisation pour diverses applications.
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