Occasion PHILIPS / FEI FIB 200 #293587354 à vendre en France

PHILIPS / FEI FIB 200
ID: 293587354
Focused Ion Beam (FIB) System Insulator Pt Carbon GIS XeF2.
PHILIPS/FEI FIB 200 est un microscope électronique à balayage à double faisceau, un outil qui fournit des capacités d'imagerie haute résolution. Le microscope est équipé d'une variété de caractéristiques qui en font un outil essentiel pour les chercheurs dans une variété de domaines. Le système optique de base est composé d'une source de rayons cathodiques et d'une variété de lentilles et de commandes utilisées pour focaliser et manipuler le faisceau d'électrons. Le microscope dispose également d'un faisceau ionique focalisé (FIB) : Ce dispositif est capable de manipuler directement des capillaires, permettant des opérations telles que le fraisage et le forage. La combinaison des faisceaux d'électrons et d'ions sur un même instrument lui permet de réaliser à la fois l'imagerie haute résolution et la nanofabrication. Le microscope lui-même a une résolution maximale de 0,8 nm, avec un champ de vision pouvant atteindre 4 mm. Il est capable de fonctionner à 30 kV à 30 kV et peut être ajusté à un certain nombre de modes de fonctionnement différents. En outre, l'instrument dispose d'un système d'analyse disponible pour l'analyse d'échantillons, fournissant des signaux provenant d'électrons secondaires, d'électrons rétrodiffusés et de rayons X. FEI FIB 200 est un instrument d'imagerie polyvalent capable de produire des résultats cohérents de haute qualité. Sa combinaison de capacités d'imagerie électronique et de faisceau ionique, ainsi que sa faible consommation d'énergie et son large éventail de modes de fonctionnement en font un excellent choix pour les chercheurs. PHILIPS FIB-200 est une machine incroyablement précise et fiable, offrant le plus haut niveau de qualité et de précision.
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