Occasion PHILIPS / FEI FIB 200 #293648640 à vendre en France

PHILIPS/FEI FIB 200 Scanning Electron Microscope (SEM) est un puissant outil d'imagerie et d'analyse. Ce microscope utilise un canon à émission de champ (FEG) pour obtenir un transfert optimal d'électrons vers l'échantillon. FEI FIB 200 permet une imagerie à plus haute résolution, une profondeur de champ supérieure et un fonctionnement plus efficace que les microscopes TEM/SEM traditionnels. L'instrument dispose d'une plage de grossissement extensible de cinq mille à cent mille fois et de faible bruit, avec une excellente résolution énergétique jusqu'à 0,2 eV. Ceci est en partie dû à la grande lentille de champ Cs d'une longueur de 200 mm, qui assure une transmission et une détection optimales de l'image. La faible dépression (< 0,04 Pa) permet aux utilisateurs d'imiter des échantillons délicats et minimise les dommages causés par les échantillons. Le SEM dispose également d'un système de détection stabilisé par focalisation (FSS) qui permet une plus longue durée d'observation. PHILIPS FIB-200 est équipé d'un étage de haute précision pour assurer un positionnement optimal des échantillons. Cette étape peut se déplacer sur des distances allant jusqu'à 100 mm dans toutes les directions et tourner jusqu'à ± 40 °. De plus, l'étage est capable d'effectuer des balayages multipoints empilés en une seule session, et possède une grille en V et une large gamme d'accessoires de balayage standard. Cet instrument d'analyse a une gamme d'applications analytiques, dont certaines comprennent la spectroscopie à rayons X dispersifs d'énergie (EDX), l'imagerie électronique secondaire (SEI) et l'imagerie électronique à transmission (TEM). Il a également la possibilité de collecter de nombreuses images haute résolution, en mode de comptage des impulsions, permettant une collecte de données plus précise. Les utilisateurs de FIB-200 peuvent bénéficier de son matériel et de son logiciel automatisés intégrés, qui réduisent considérablement les temps d'installation, ainsi que d'explorer les capacités supplémentaires que l'instrument a à offrir comme ses capacités classiques de lithographie de faisceau d'électrons. PHILIPS/FEI FIB-200 SEM est un puissant outil d'analyse et d'imagerie offrant une gamme de fonctionnalités et de capacités fiables. Il est très efficace pour effectuer des mesures analytiques d'échantillons organiques et inorganiques. Ses performances élevées, ainsi que ses nombreuses applications automatisées, font de cet instrument un choix optimal pour les utilisateurs à la recherche d'un SEM fiable et efficace.