Occasion PHILIPS / FEI FIB 200 #293756948 à vendre en France

PHILIPS/FEI FIB 200 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications dans l'imagerie nanométrique et l'analyse de matériaux. Il est capable de capturer des images haute résolution et des contours d'échantillons à une résolution égale ou inférieure à 10 nm. Le FEI FIB 200 dispose d'un puissant canon à émission de champ (FEG) doté de capacités de nanolithographie électronique. La colonne est équipée d'un filtre d'énergie primaire quadrupolaire électrostatique pour maximiser la résolution, tandis qu'un filtre secondaire rétractable assure une imagerie sans contamination. Il existe une variété de détecteurs en colonne, dont un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB), un détecteur de rayons X fluorescents, un détecteur d'électrons secondaires (SE) et un détecteur d'électrons secondaires gazeux (GSE). PHILIPS FIB-200 dispose d'un étage d'échantillons haute résolution pouvant accueillir des échantillons jusqu'à 200 mm et d'un large choix de porte-échantillons automatisés offrant des changements rapides et faciles. Un système d'injection de gaz (SIG) fermé permet le dépôt de couches métalliques par pulvérisation, électropolissage et traitement par faisceau d'ions. Cette polyvalence permet au chercheur de modeler, caractériser et modifier les échantillons avec un minimum d'effort. PHILIPS FIB 200 peut être utilisé comme un SEM classique, ou comme un microscope omnidirectionnel à injection de gaz (OMIG), capable d'observation in situ et de micro-traitement d'échantillons. Il est également équipé de lithographie par faisceau d'électrons (EBL) pour fournir des applications précises de balisage en deux dimensions. En plus du FIB 200, FEI propose une gamme d'accessoires modulaires qui peuvent être ajoutés au microscope pour des applications plus spécialisées. Cela comprend un système vidéo numérique pour assurer la diffusion vidéo en temps réel, un système de balayage ionique minibeam pour l'analyse de surfaces isolantes, et un contrôleur d'étage automatisé pour les mouvements d'étages à axes multiples. PHILIPS/FEI FIB-200 est un choix optimal pour l'imagerie nanométrique et la nanofabrication des matériaux. Sa combinaison de composants performants, son large choix de porte-échantillons et d'accessoires automatisés et son fonctionnement omnidirectionnel en font un outil puissant pour la recherche en nanotechnologie.