Occasion PHILIPS / FEI FIB 200 #9298847 à vendre en France

PHILIPS/FEI FIB 200 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) utilisé pour l'observation et l'étude d'échantillons microscopiques et nanoscopiques. Ce microscope électronique particulier est utilisé pour l'imagerie haute résolution et l'analyse des matériaux dans les domaines de la science des matériaux, de la métallographie industrielle et des sciences de la vie. La FEI FIB 200 est équipée d'une vue environnementale qui lui permet d'observer des échantillons dans des conditions non sous vide et une grande variété de conditions liquides et gazeuses. Cela signifie que le microscope peut être utilisé pour analyser des échantillons sans avoir à maintenir un vide autour de l'échantillon. Le microscope électronique à balayage comporte un détecteur d'électrons à haute résolution, capable de détecter des électrons avec une résolution énergétique de 0,01 eV. Ceci est important car il peut mesurer des électrons avec une résolution suffisante pour détecter les plus petites caractéristiques d'une image. PHILIPS FIB-200 est également équipé d'un détecteur d'électrons secondaire. Ceci est important car il permet au microscope de détecter les électrons secondaires qui sont produits lorsqu'un faisceau d'électrons frappe la surface de l'échantillon. Ceci est utile pour étudier les propriétés de surface de l'échantillon et générer des images à haute résolution. PHILIPS FIB 200 dispose également d'un système à vide ultra-haut, qui permet un environnement contrôlé dans lequel les échantillons peuvent être étudiés. Ceci est important car il minimise la contamination de l'échantillon et évite les dommages causés aux échantillons par d'autres gaz dans l'air. Le microscope électronique possède deux systèmes d'éclairage complémentaires. Le premier est le système d'éclairage d'assistance au champ, qui utilise des électrons réfléchis qui sont dispersés hors de l'échantillon pour générer des images lumineuses de l'échantillon. Le second est le mode électronique secondaire, qui génère des images lumineuses de la surface de l'échantillon en détectant les électrons secondaires qui sont générés lorsque le faisceau d'électrons frappe l'échantillon. Enfin, PHILIPS/FEI FIB-200 dispose d'un appareil photo numérique haute résolution qui permet de générer des images numériques de l'échantillon. De plus, le microscope est équipé d'un logiciel permettant la reconstruction 3D de l'échantillon. Ceci est utile pour créer des modèles tridimensionnels qui peuvent être utilisés pour l'analyse et la visualisation de l'échantillon.