Occasion PHILIPS / FEI FIB 820 #9137621 à vendre en France

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ID: 9137621
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1995
Dual beam FIB, 8" Chamber: 8" High vacuum TMP Pumping system Manual loading type loader (5) Axis motorized stages Chamber CCD camera Electron gun: XL30 FEG column Type: Se-cathode Multiple hole aperture SE Detector (2) Ion pump Ion gun: LMIS Ga ion gun (1) Ion pump Gas gun: Enhanced etch gun Depo gun: PT Deposition gun Control PC: Maxpro 1000 system Windows NT Control rack: HTSU Power supply: 30KV Electron gun Power rack: Electron gun IGP controller Ion gun IGP controller Stage control PCB and power ETC: Power supply: 30KV Ion gun Extenernal TMP controller Missing parts: Wafer holder Stage control power supply Vacuum pump Control pad Trackball 1995 vintage.
PHILIPS/FEI FIB 820 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil d'imagerie polyvalent et puissant pour la recherche dans les domaines de la physique, la chimie, la science des matériaux, la géologie, la biologie, et plus encore. Il offre une résolution maximale de 5 nm, des capacités d'imagerie 2D/3D, un plan de plancher ouvert et une large gamme de détecteurs, de grossissements, d'environnement gazeux et de configurations d'étages. Le grand plan de plancher ouvert de FEI FIB 820 permet un positionnement et un retrait faciles des échantillons, et toutes les connexions à vide, l'électronique et d'autres composants sont situés hors de la zone de travail directe. La plate-forme de balayage est conçue pour une utilisation avec une variété d'échantillons, y compris de petits morceaux de métal et d'électronique, des échantillons biologiques, de petits grains de matériaux, et plus encore. PHILIPS FIB-820 dispose d'une gamme complète d'optiques électroniques, y compris une plage de grossissement de 20x à 300.000x. Il dispose d'une variété de détecteurs, fournissant des images de contraste, de résolution et de rapport signal/bruit élevé. Il s'agit notamment d'un détecteur d'électrons secondaire, d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés, d'un détecteur d'ions secondaire et d'un détecteur de rayons X. Les logiciels d'imagerie avancés offrent de nombreux avantages, y compris des fonctions avancées d'acquisition et de manipulation d'images. PHILIPS FIB 820 propose également de nombreuses options pour créer des images haute résolution d'échantillons dans un environnement gazeux. En contrôlant la pression et le débit de gaz, l'utilisateur peut atteindre des niveaux de vide allant jusqu'à 10-10 Torr, ce qui est idéal pour l'imagerie d'échantillons inorganiques. La chambre à gaz est également capable de contrôler l'atmosphère, permettant une variété d'environnements gazeux, y compris le vide cryogénique, l'ultra-haut vide, et l'ultra-bas vide. PHILIPS/FEI FIB-820 est un outil idéal pour les applications en nanotechnologie, imagerie biologique, science des matériaux, etc. Son plan d'ouverture, ses options d'imagerie avancées et sa vaste gamme de détecteurs en font un outil idéal pour les chercheurs qui cherchent à améliorer leurs capacités d'imagerie. Ce SEM puissant offre d'excellentes capacités d'imagerie, une large gamme d'opérations et une gamme complète de composants pour répondre aux besoins de la plupart des chercheurs.
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