Occasion PHILIPS / FEI FIB 820 #9137621 à vendre en France
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Vendu
ID: 9137621
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1995
Dual beam FIB, 8"
Chamber:
8" High vacuum
TMP Pumping system
Manual loading type loader
(5) Axis motorized stages
Chamber CCD camera
Electron gun:
XL30 FEG column
Type: Se-cathode
Multiple hole aperture
SE Detector
(2) Ion pump
Ion gun:
LMIS Ga ion gun
(1) Ion pump
Gas gun: Enhanced etch gun
Depo gun: PT Deposition gun
Control PC:
Maxpro 1000 system
Windows NT
Control rack:
HTSU
Power supply: 30KV Electron gun
Power rack:
Electron gun IGP controller
Ion gun IGP controller
Stage control PCB and power
ETC:
Power supply: 30KV Ion gun
Extenernal TMP controller
Missing parts:
Wafer holder
Stage control power supply
Vacuum pump
Control pad
Trackball
1995 vintage.
PHILIPS/FEI FIB 820 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil d'imagerie polyvalent et puissant pour la recherche dans les domaines de la physique, la chimie, la science des matériaux, la géologie, la biologie, et plus encore. Il offre une résolution maximale de 5 nm, des capacités d'imagerie 2D/3D, un plan de plancher ouvert et une large gamme de détecteurs, de grossissements, d'environnement gazeux et de configurations d'étages. Le grand plan de plancher ouvert de FEI FIB 820 permet un positionnement et un retrait faciles des échantillons, et toutes les connexions à vide, l'électronique et d'autres composants sont situés hors de la zone de travail directe. La plate-forme de balayage est conçue pour une utilisation avec une variété d'échantillons, y compris de petits morceaux de métal et d'électronique, des échantillons biologiques, de petits grains de matériaux, et plus encore. PHILIPS FIB-820 dispose d'une gamme complète d'optiques électroniques, y compris une plage de grossissement de 20x à 300.000x. Il dispose d'une variété de détecteurs, fournissant des images de contraste, de résolution et de rapport signal/bruit élevé. Il s'agit notamment d'un détecteur d'électrons secondaire, d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés, d'un détecteur d'ions secondaire et d'un détecteur de rayons X. Les logiciels d'imagerie avancés offrent de nombreux avantages, y compris des fonctions avancées d'acquisition et de manipulation d'images. PHILIPS FIB 820 propose également de nombreuses options pour créer des images haute résolution d'échantillons dans un environnement gazeux. En contrôlant la pression et le débit de gaz, l'utilisateur peut atteindre des niveaux de vide allant jusqu'à 10-10 Torr, ce qui est idéal pour l'imagerie d'échantillons inorganiques. La chambre à gaz est également capable de contrôler l'atmosphère, permettant une variété d'environnements gazeux, y compris le vide cryogénique, l'ultra-haut vide, et l'ultra-bas vide. PHILIPS/FEI FIB-820 est un outil idéal pour les applications en nanotechnologie, imagerie biologique, science des matériaux, etc. Son plan d'ouverture, ses options d'imagerie avancées et sa vaste gamme de détecteurs en font un outil idéal pour les chercheurs qui cherchent à améliorer leurs capacités d'imagerie. Ce SEM puissant offre d'excellentes capacités d'imagerie, une large gamme d'opérations et une gamme complète de composants pour répondre aux besoins de la plupart des chercheurs.
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