Occasion PHILIPS / FEI FIB #9358460 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI FIB (Focused Ion Beam) (SEM) est un instrument avancé utilisé pour produire des images nanométriques d'échantillons biologiques et autres. Il est optimisé pour l'imagerie de matériaux durs et doux à l'échelle nanométrique, et peut acquérir des images extrêmement haute résolution avec un contraste naturel et artificiel. FEI FIB fonctionne en combinant un faisceau d'ions focalisés (PHILIPS FIB) et un faisceau d'électrons à balayage (SEM) dans le même instrument, permettant aux chercheurs de manipuler l'échantillon et de générer des images à haute résolution avec FIB, puis de visualiser ces images avec le SEM. PHILIPS/FEI FIB dispose d'une colonne de balayage d'ions pour contrôler la profondeur du faisceau d'ions dans l'échantillon. Cette colonne peut être manipulée pour se concentrer sur différents niveaux de l'échantillon, permettant aux chercheurs d'acquérir des images avec des résolutions aussi petites que 0.5nm. De plus, la colonne FIB FEI abrite un système dédié pour contrôler l'angle, l'énergie et la vitesse du faisceau d'ions, permettant une manipulation et une imagerie précises des échantillons. PHILIPS FIB est utilisé pour générer des images à l'échelle nanométrique avec un contraste à la fois monochromatique et polychromatique. L'imagerie monochromatique utilise une seule énergie électronique pour générer des images avec un maximum de contraste. Au cours de l'imagerie polychromatique, on peut utiliser des énergies électroniques multiples, fournissant des informations plus détaillées sur l'image et permettant aux chercheurs d'étudier un plus large éventail d'échantillons. De plus, FIB est optimisé pour combiner l'imagerie d'échantillons vivants avec la communication avec d'autres instruments microscopiques. PHILIPS/FEI FIB peut également être utilisé dans diverses techniques de tomographie à haute résolution. Ces techniques permettent aux chercheurs d'observer des échantillons en trois dimensions, donnant des informations plus détaillées qu'une image bidimensionnelle traditionnelle. Des techniques tomographiques telles que la tomographie par faisceau ionique focalisé (FEI FIB-TEM) sont utilisées pour mesurer la structure et les propriétés internes d'un échantillon en l'imagant sur une gamme d'angles. En bref, PHILIPS FIB est un outil précieux pour l'imagerie et l'analyse à l'échelle nanométrique. Sa combinaison d'une colonne de faisceau d'ions focalisés et d'un microscope électronique à balayage, d'un contrôle précis du faisceau d'ions et de techniques tomographiques puissantes peut fournir aux chercheurs une mine d'informations sur les échantillons à une échelle incroyablement petite.