Occasion PHILIPS / FEI Inspect-F #9261821 à vendre en France

PHILIPS/FEI Inspect-F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre une gamme de capacités analytiques pour une utilisation industrielle, scientifique et universitaire. Ce microscope est une amélioration substantielle par rapport aux générations précédentes de SEM, offrant des capacités de résolution et d'imagerie accrues. FEI Inspect-F est un microscope électronique à balayage avancé doté d'une conception brevetée qui génère des capacités d'imagerie à basse vibration, haute résolution et d'analyse avancée. Il utilise un puissant système de vide turbo-pompé pour un large éventail de techniques d'imagerie et d'analyse, y compris les électrons secondaires, les électrons rétrodiffusés et la microanalyse aux rayons X. Le système est adapté aux échantillons allant de petites sections à de plus grandes structures. Les optiques électroniques avancées sont équipées d'un système de focalisation automatique intelligent qui focalise rapidement et précisément le faisceau d'électrons pour générer des images à haute résolution. L'optique est conçue pour maximiser le débit et réduire le temps de scan, tout en permettant une optimisation dynamique complète de l'image. La grande taille de la chambre offre un large accès à l'échantillon pour faciliter les manipulations et la navigation. PHILIPS Inspect-F dispose également d'une large gamme d'instruments sophistiqués qui fournissent une multitude d'options configurables par l'utilisateur pour une variété de procédures analytiques. Il peut être équipé de capacités d'imagerie en champ sombre annulaire (ADF) et de microanalyse des rayons X (EDX) dispersive d'énergie. L'instrument comprend une vaste collection de détecteurs dédiés et interchangeables, y compris le filtre électromagnétique (EIEF), la spectrométrie dispersive d'énergie (EDS) et la spectrométrie de perte d'énergie électronique (AES). Le fonctionnement fiable de Inspect-F permet également une grande variété d'analyses supplémentaires, telles que l'analyse ponctuelle des rayons X (XPA), la spectroscopie photoélectronique (XPS), l'émission de rayons X induite par les particules (PIXE) et la cathodoluminescence. La chambre d'échantillonnage est contrôlée en température pour des conditions d'imagerie cohérentes, assurant des résultats fiables lors de l'analyse d'échantillons de tout type. Dans l'ensemble, PHILIPS/FEI Inspect-F est un microscope électronique à balayage avancé qui offre une large gamme de capacités analytiques, une résolution inégalée et des performances supérieures. Sa puissance de calcul et son instrumentation en font l'outil parfait pour les applications industrielles, académiques et scientifiques.