Occasion PHILIPS / FEI Inspect F50 #9239425 à vendre en France

PHILIPS/FEI Inspect F50 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui permet aux utilisateurs d'effectuer une imagerie et une analyse à haute résolution des échantillons aux micro et nanoscelles. Ce SEM est équipé d'un large éventail de fonctionnalités et de fonctionnalités qui fournissent des résultats précis. FEI Inspect F50 dispose d'un canon à émission de champ qui génère un faisceau d'électrons de haute qualité avec une meilleure stabilité, permettant des images à plus haute résolution tout en minimisant les coûts opérationnels. La correction d'aberration de la colonne électronique permet aux utilisateurs d'obtenir des images époustouflantes de leurs spécimens tout en améliorant la profondeur de champ et la netteté globale de l'image. Le détecteur d'électrons secondaire dispose d'un réseau de détection de rétrodiffusion 3D qui a une grande profondeur de champ et une excellente résolution, en particulier pour l'analyse de surface. PHILIPS Inspect F50 est également livré avec un système informatique très avancé, avec un processeur rapide et une carte graphique dédiée, ainsi qu'une grande quantité de RAM et d'espace de stockage. Cela permet une acquisition d'image plus rapide et l'organisation des données du simulateur. De plus, Inspect F50 offre des capacités supérieures de manipulation et d'imagerie des échantillons. Son étage automatisé dans la lentille supporte des échantillons de taille jusqu'à 100 mm avec une résolution inférieure à 1 Ångström. L'étage automatisé est également capable de manipuler de nombreux échantillons avec un contrôle précis pour le chargement, le positionnement et le suivi des échantillons. PHILIPS/FEI Inspect F50 est également équipé d'une caméra numérique microscopique et d'une microbe intégrée pour scanner des échantillons et collecter des images à des échelles nanométriques. Enfin, FEI Inspect F50 fournit également un ensemble complet d'outils logiciels conviviaux pour la manipulation d'images et l'analyse des données SEM. Il s'agit notamment d'outils de création d'images tridimensionnelles, de mesures automatisées et d'analyse de surface 3D. PHILIPS Inspect F50 est un microscope électronique à balayage avancé et puissant qui offre des capacités d'imagerie et d'analyse sophistiquées avec des niveaux supérieurs de résolution, de manipulation d'échantillons et de contrôle. Son large éventail de fonctionnalités, de fonctionnalités et d'outils logiciels conviviaux fournit la plate-forme ultime pour l'imagerie et l'analyse d'échantillons aux micro et nanomètres.