Occasion PHILIPS / FEI Nova 600 #9197165 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage PHILIPS/FEI Nova 600 (SEM) est un instrument d'imagerie et d'analyse à haute résolution conçu pour l'inspection et l'analyse d'échantillons à haute résolution. Il est capable d'identifier les caractéristiques de surface jusqu'à l'échelle du nanomètre et de fournir des images à haute résolution des structures semi-conductrices et d'autres structures nanométriques. L'équipement est composé d'un détecteur secondaire d'électrons (SE) carrousel, d'une colonne d'électrons avec un canon électrostatique pour la manipulation du faisceau d'électrons, et d'un étage d'échantillonnage. Le FEI Nova 600 est également équipé d'un détecteur de spectroscopie à rayons X dispersifs d'énergie (EDX), permettant une analyse élémentaire qualitative et quantitative des échantillons. Le canon à électrons en PHILIPS NOVA600 est capable de produire une variété de tensions de faisceau d'électrons et de densités de courant. Cela permet au système de produire des images à haute résolution à partir de caractéristiques de surface aussi petites que 1 nm. L'unité de manipulation du faisceau fonctionne en déviant le faisceau d'électrons dans un plan x et y dans un motif raster, ce qui permet de localiser les caractéristiques de surface sur un échantillon. L'étape d'échantillonnage de NOVA600 est capable de mouvements dans les trois axes- x, y et z. Ceci permet au SEM de scanner un échantillon entier pour obtenir une cartographie 3D précise des surfaces d'un échantillon. Cela fournit un grand niveau de détail dans la topographie d'un échantillon et aide à identifier exactement où certains bords et formes se trouvent sur la surface de l'échantillon. La machine dispose également de fonctionnalités automatisées pour aider à optimiser la résolution d'image et le contraste des caractéristiques fines. Ceux-ci comprennent la réduction du bruit pour optimiser la qualité globale de l'image et Dynamic Focus pour contrôler la profondeur focale d'un échantillon dans différentes régions d'une surface d'échantillon. Enfin, le PHILIPS Nova 600 est équipé à la fois d'un détecteur d'électrons secondaire et d'un détecteur EDXSpeptiscopy. Le détecteur d'électrons secondaire est conçu pour optimiser le contraste et la résolution des échantillons en utilisant les électrons émis par l'échantillon. La spectroscopie EDXSp permet une analyse élémentaire quantitative des échantillons ainsi qu'une identification qualitative des éléments présents sur une surface d'échantillon. En conclusion, PHILIPS/FEI NOVA600 Scanning Electron Microscope est un instrument d'imagerie et d'analyse incroyablement puissant. En fournissant des capacités d'imagerie ultra haute résolution et d'analyse élémentaire à l'échelle du nanomètre, l'outil permet des inspections très détaillées des échantillons. Les fonctionnalités automatisées et les moyens de manipulation des faisceaux fournissent également des cartes 3D précises de la topographie d'un échantillon, permettant des mesures de position exactes des caractéristiques et des formes de surface.