Occasion PHILIPS / FEI Phenom 3950 #293652975 à vendre en France

Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.

ID: 293652975
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI Phenom 3950 est un microscope électronique à balayage primé qui offre une solution d'imagerie unique. Cet instrument intègre plusieurs caractéristiques de conception qui lui permettent de fournir des images extraordinairement détaillées des surfaces de l'échantillon. FEI Phenom 3950 utilise des technologies classiques et avancées pour l'imagerie supérieure. L'imagerie SEM est optimisée pour les images rapides et haute résolution. En termes d'ingénierie et de conception, PHILIPS Phenom 3950 est équipé d'un objectif précisément conçu, qui est optimisé pour l'imagerie SEM. L'objectif est conçu avec une section transversale spéciale de chaque côté, pour permettre une collecte de lumière maximale et une résolution d'image améliorée. L'électronique intégrée de l'instrument permet au détecteur d'alterner à la fois des signaux d'électrons secondaires et des signaux de détecteurs d'électrons rétrodiffusés. Ceci permet à l'utilisateur de sélectionner le mode de détection le plus approprié, tout en obtenant la résolution et le contraste les plus élevés possibles. La technologie de HybridDetect faite breveter de l'instrument augmente aussi le contenu d'information recueilli pendant le fait de refléter. Phenom 3950 est également équipé d'un système spécialisé pour le traitement des échantillons. Le logiciel de contrôle AutoCollect sur PHILIPS/FEI Phenom 3950 permet à l'utilisateur d'effectuer des opérations telles que le balayage, l'imagerie et les processus de sectionnement. La capacité de programmer précédemment l'instrument pour des tâches spécifiques entraîne une diminution de la précision et une efficacité accrue de l'utilisateur. Cela aide également avec de plus grands ensembles de données, car l'utilisateur peut instruire l'instrument pour effectuer des tâches de mesure et d'imagerie plus complexes. FEI Phenom 3950 est utilisable sur écran tactile, ce qui augmente son accessibilité et sa convivialité. Une interface graphique intuitive permet à l'utilisateur de contrôler l'application de tous les paramètres, tandis que les fonctionnalités de sauvegarde automatique préservent les données et les fichiers image haute résolution. Enfin, un module de préparation d'échantillons est disponible sur PHILIPS Phenom 3950, de sorte que l'utilisateur a plus de contrôle sur le processus de métrologie. En résumé, Phenom 3950 est un microscope électronique à balayage primé qui offre une solution d'imagerie unique. L'instrument est conçu avec un objectif conçu avec précision, il est équipé d'une technologie de test de détection avancée et utilise le logiciel de contrôle AutoCollect pour le traitement des échantillons. Enfin, l'instrument est utilisable sur écran tactile, permettant un accès facile aux réglages, et dispose d'un module de préparation d'échantillons pour une précision accrue de l'utilisateur.
Il n'y a pas encore de critiques