Occasion PHILIPS / FEI Phenom Pro #9316176 à vendre en France

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ID: 9316176
Desktop Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI Phenom Pro est un microscope électronique à balayage (SEM) qui dispose d'une conception de système intégré pour des exigences d'imagerie et d'analyse flexibles. Il offre trois grossissements sélectionnables par l'utilisateur, permettant un contrôle et une précision accrus dans l'observation et l'imagerie des spécimens. FEI Phenom Pro dispose d'un environnement à vide bas qui offre une résolution supérieure, utile pour l'observation des échantillons. Il est capable d'observer des échantillons à une résolution de 5 nm, fournissant une étude détaillée des surfaces et des composants cellulaires. PHILIPS Phenom Pro dispose également d'une colonne optionnelle pour collecter les électrons secondaires, qui fournissent des images très détaillées et tridimensionnelles de l'échantillon. Phenom Pro est conçu avec une interface utilisateur intuitive, qui permet un fonctionnement rapide et simple. Il dispose d'un écran tactile multi-tactile, Semiconductor Integrated Circuit (SIC) pour le traitement des données, et une caméra intégrée avec jusqu'à 136 fonctions pour une imagerie facile. En outre, il dispose d'un logiciel avancé d'analyse de surface et d'un logiciel avancé d'analyse des particules pour l'analyse automatisée, fournissant un contrôle complet du faisceau d'électrons. Le logiciel peut aider à la détection d'une variété de propriétés de surface, y compris la taille, la chimie, la morphologie et la composition des rayons X. PHILIPS/FEI Phenom Pro dispose également d'un module d'étape automatisé et d'un changeur d'échantillon automatisé (ASC) pour faciliter le chargement des échantillons. Le système de détection optique avancé de l'ASC permet un positionnement précis et répétable des étages pour l'imagerie sans surveillance. Dans l'ensemble, FEI Phenom Pro est un microscope électronique à balayage fiable et puissant qui convient à un large éventail d'applications d'imagerie et d'analyse. Sa conception intégrée du système et ses logiciels avancés permettent une collecte de données efficace et précise.
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