Occasion PHILIPS / FEI Phenom #293605042 à vendre en France

PHILIPS/FEI Phenom scanning electron microscope (SEM) est un microscope haute performance et haute résolution conçu pour l'imagerie de matériaux multiples et de nombreuses applications. Il est couramment utilisé pour étudier la composition, la structure et les propriétés d'une grande variété de matériaux allant des solides simples aux nanostructures complexes. FEI Phenom intègre un puissant canon à électrons conçu par Zeiss qui permet à l'utilisateur d'acquérir des images haute résolution à l'échelle nanométrique. Le SEM est équipé d'un détecteur de comptage de focus-ion avancé qui offre une imagerie de contraste élevé dans tous les modes. Tous les composants sont logés dans un système robuste et fiable qui garantit que les images produites sont de la plus haute qualité. PHILIPS Phenom dispose d'une unité d'optique électronique à balayage avancé qui lui permet de scanner rapidement des échantillons à un large éventail de grossissements. Ces balayages peuvent atteindre 20 000 x et 300 000 x, ce qui rend Phenom bien adapté à l'étude des structures et des matériaux à l'échelle nanométrique. Le canon à électrons a également la capacité de scanner plusieurs matériaux différents, de sorte qu'il peut être utilisé pour des applications telles que l'étude de la chimie de surface, la composition élémentaire et la composition chimique. PHILIPS/FEI Phenom est capable de produire des images haute résolution avec beaucoup de détails, même à des grossissements élevés. Les images sont présentées sur un système de détection numérique à panneau plat qui utilise des dispositifs à couplage de charge (CCD) qui permettent à l'utilisateur d'acquérir une image rapidement. Les CCD sont très sensibles aux rayons X et M et sont également capables de détecter efficacement les électrons. FEI Phenom est équipé d'une interface logicielle conviviale qui permet aux utilisateurs de configurer facilement des scans, d'analyser des images et de manipuler des données d'image. L'interface comprend également de nombreuses fonctionnalités telles que l'amélioration de l'image, la segmentation automatique, la soustraction de fond et le filtrage des données. De plus, le logiciel fournit des outils d'analyse complets tels que l'histogramme, l'autocorrélation, la transformation de Fourier, la conversion de masse et la normalisation des données. Dans l'ensemble, PHILIPS Phenom scanning electron microscope est un système d'imagerie avancé qui est parfait pour les applications de recherche dans lesquelles des détails intenses sont nécessaires. Son puissant canon à électrons, son affichage d'images haute résolution et son large éventail de grossissements en font un excellent outil pour étudier un large éventail de matériaux, des solides simples aux nanostructures complexes. Ce microscope électronique à balayage haute performance fait un appareil idéal pour les besoins de recherche et de développement. Grâce à sa conception robuste et à son interface logicielle conviviale, il est facile à mettre en place et à utiliser, ce qui permet aux utilisateurs d'obtenir des images de la plus haute qualité pour leurs recherches.