Occasion PHILIPS / FEI Phenom #9202448 à vendre en France

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ID: 9202448
Style Vintage: 2009
Scanning electron microscope (SEM) P/N: FP 3950/00 Imaging: High brightness Long-life electron source Superior to tungsten SEMs High resolution desktop SEM: Up to 20,000x Resolution: <30 nm Minimum field of view: 12 um Electron optical range: 24000x Digital zoom: 12x Equipped with color camera Included: Manual control interface Mouse joystick Standard sample holder Pfeiffer vacuum Power supply User manual 2009 vintage.
PHILIPS/FEI Phenom est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre l'imagerie haute résolution et l'analyse d'une variété d'échantillons. Il combine les meilleures caractéristiques des SEM de bureau et semi-professionnels en un seul paquet pratique, permettant aux utilisateurs d'image et d'analyse rapide d'une gamme de matériaux. FEI Phenom utilise la technologie d'imagerie la plus récente, avec un système optique haute définition et un canon à électrons pour l'imagerie précise et détaillée. Il est équipé de deux types de pixels, monochrome et multicanal, pour créer des détails plus précis dans l'image. Les images sont affichées en temps réel sur son moniteur LCD intégré. PHILIPS Phenom propose également une gamme de grossissements allant de 10X à 500X pour accueillir une variété de types et de tailles d'échantillons. Phenom intègre des porte-spécimens spéciaux pour aider à capturer un comportement unique au sein de l'échantillon étudié. Ces supports permettent une manipulation précise de l'échantillon pour capturer des informations telles que la souche et l'inclinaison, fournissant une analyse plus détaillée de ses composants. Le système de contrôle électronique interne assure une analyse précise du volume et une adaptation aux conditions d'imagerie requises. PHILIPS/FEI Phenom est conçu pour une utilisation facile, permettant une recherche plus ciblée ou un travail de laboratoire. Son interface intuitive assure une courbe d'apprentissage rapide et un fonctionnement efficace. Il existe un générateur d'options pour la configuration automatisée des paramètres, permettant aux utilisateurs d'adapter rapidement le système d'imagerie à leurs besoins. FEI Phenom est spécifiquement conçu pour la recherche et l'utilisation industrielle. Sa polyvalence et sa facilité d'utilisation permettent aux utilisateurs de réaliser une analyse rapide et précise de tous les types d'échantillons. Il offre des capacités d'imagerie et d'analyse inégalées pour explorer et évaluer une variété d'échantillons. Avec la combinaison de l'expertise FEI et PHILIPS, PHILIPS Phenom allie une innovation scientifique puissante à une qualité fiable.
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