Occasion PHILIPS / FEI Phenom #9362022 à vendre en France

PHILIPS/FEI Le microscope électronique à balayage phénome (SEM) est un puissant instrument d'analyse de surface et d'imagerie d'une grande variété d'échantillons avec un niveau de détail et de précision inégalé. Il est conçu pour l'imagerie nanométrique avec un champ de vision pouvant atteindre 30 µm. Ce modèle utilise une conception électronique-optique spéciale pour obtenir une haute résolution et pour fournir une plus grande stabilité lors de l'imagerie. La technologie innovante consiste en une combinaison unique d'une lentille électronique primaire en colonne et d'une lentille concasseuse de précession en colonne pour l'imagerie à fort grossissement des particules à la fois grandes et petites. FEI Phenom est capable d'imagerie jusqu'à 20 nm de résolution et jusqu'à 2000X de grossissement pour des scans extrêmement détaillés. Sa conception spécialisée comprend un détecteur d'électrons secondaire unique pour maximiser la réponse du signal et réduire les dommages de l'échantillon dans des conditions de fonctionnement difficiles. Cela améliore considérablement sa capacité d'imagerie d'échantillons délicats. En outre, le logiciel convivial et les fonctionnalités automatisées rendent le fonctionnement rapide et facile. Le SEM offre également l'acquisition d'images à haute vitesse et la capacité de promouvoir des images à pleine résolution en temps réel. L'étage d'échantillonnage peut facilement être déplacé dans le plan X-Y pour un alignement précis, et le mode de balayage à grande vitesse permet une imagerie rapide. De plus, l'échantillon peut être parfaitement aligné avec le laser d'alignement optionnel pour une flexibilité maximale dans le mouvement et l'alignement de l'échantillon. PHILIPS Phenom est parfait pour l'analyse de surface de divers échantillons, des objets organiques aux matériaux non métalliques tels que la céramique, les composites et les polymères. La résolution supérieure du SEM permet l'imagerie détaillée de caractéristiques telles que les limites des grains, les fibres et les particules. De plus, le grand champ de vision et le rapport signal sur bruit amélioré permettent d'améliorer la résolution des couches minces et des petites caractéristiques. Dans l'ensemble, Phenom est un outil puissant d'imagerie et d'analyse à l'échelle nanométrique avec une gamme de capacités et de fonctionnalités. Il offre un niveau avancé de détail et de précision ainsi que des logiciels robustes et faciles à utiliser et un fonctionnement automatisé. Avec sa haute résolution, son vaste champ de vision et sa conception polyvalente, il est un outil idéal pour les applications d'analyse de surface, d'imagerie et de nanotechnologie.