Occasion PHILIPS / FEI Quanta 200 3D #9315970 à vendre en France

ID: 9315970
Scanning Electron Microscope (SEM) Dual beam With Ga ion source Acceleration voltage: 2-30kV Cutting-edge system Imaging and micro machining Surface imaging resolution: 1nm Resolution: 1.2nm at 30kV with SE detector FIB Resolution: 5-7nm ESEM Resolution: 1.5nm.
PHILIPS/FEI Quanta 200 3D est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre une gamme de fonctionnalités pour les applications d'imagerie, d'analyse et de métrologie. C'est un microscope électronique à haute résolution, Transmission electron microscope (TEM) qui promet plus de performance, de précision et de flexibilité que les autres modèles SEM. En tant que détecteur d'électrons secondaire, le FEI Quanta 200 3D dispose d'un détecteur d'électrons Backscatter (BED) qui présente une configuration hybride contenant à la fois un BED classique et un SuperFEG à haut rendement. PHILIPS Quanta 200 3D offre un grossissement maximum de 500 000 fois, offrant une résolution exceptionnelle. L'instrument est équipé d'une étape d'auto-alignement unique, permettant aux utilisateurs de profiler et d'aligner automatiquement des structures d'échantillons rapidement et avec précision. Quanta 200 3D dispose également d'un détecteur de faisceau fixe 20kV, assurant une excellente résolution et stabilité dans les échantillons d'imagerie. De plus, l'optique électronique supérieure de PHILIPS/FEI Quanta 200 3D offre aux utilisateurs une flexibilité maximale pour optimiser les paramètres d'imagerie, tels que les limites d'alimentation en courant et la tension de source. Le FEI Quanta 200 3D dispose également d'une caméra CCD haute vitesse, permettant l'observation et l'analyse en temps réel. La précision et la stabilité de PHILIPS Quanta 200 3D le rendent particulièrement adapté à l'imagerie de structures tridimensionnelles dans des environnements opérationnels. Ses fonctionnalités avancées, telles que le détecteur à colonnes sans contact et les algorithmes avancés de traitement d'images, permettent aux utilisateurs de visualiser et de contrôler avec précision des structures tridimensionnelles complexes. En outre, Quanta 200 3D offre une gamme d'options pour l'analyse des faisceaux et la métrologie. Il s'agit notamment du spectromètre avancé de rétrodiffusion d'électrons (EBSP), du spectromètre à rayons X dispersifs d'énergie (EDX) et de l'analyseur de gaz résiduels (RGA). En combinant ces options avec le SuperFEG et le détecteur SEM standard, les utilisateurs peuvent obtenir une acquisition et une analyse de données rapides et précises. En conclusion, PHILIPS/FEI Quanta 200 3D est un microscope électronique à balayage de pointe qui offre des avantages substantiels pour les applications d'imagerie, d'analyse et de métrologie. La résolution, la précision et la flexibilité exceptionnelles de l'instrument le rendent idéal pour visualiser et contrôler des structures tridimensionnelles complexes, en particulier dans des environnements opérationnels complexes. En outre, ses fonctionnalités avancées fournissent une acquisition et une analyse de données rapides et précises, et sa gamme d'options d'analyse de faisceau et de métrologie permet aux utilisateurs de profiler et d'optimiser les caractéristiques des échantillons rapidement et sans intervention manuelle. Au total, le FEI Quanta 200 3D est un outil précieux et puissant dans le laboratoire moderne.
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