Occasion PHILIPS / FEI Quanta 200 #293735981 à vendre en France
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ID: 293735981
Scanning Electron Microscope (SEM)
HTSU Unit non-functional
Dual anode source emission geometry
Filament lifetime: >100 hours
Detectors:
Everhardt-Thornley SED
Low vacuum SED (LFD)
Gaseous SED (GSED)
Solid-state BSED
Gaseous analytical BSED (GAD)
Vacuum system:
240 l/s TMP
(2) PVP
Beam gas path length: 10/2 mm
Chamber:
(8) Ports
Left to right: 284mm
Analytical WD: 10mm
EDX Take-off angle: 35°
4-Axis motorized stage:
Eucentric goniometer stage
X,Y: 50mm
Z: 50mm
R: 360°
Repeatability: 5µm
Resolution:
3nm at 30kV (SE)
4nm at 30kV (BSE)
10nm at 3kV (SE)
Accelerating voltage: 200 V - 30 kV
Probe current: Up to 2µA
System control:
Keyboard
Optical mouse
Single frame
(4) Quadrant image display
(4) Quadrant live
Graphical user interface: 32-Bit
Operating system: Windows 2000 SP3.
PHILIPS/FEI Quanta 200 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour une utilisation dans divers domaines, y compris la science des matériaux, la géologie et la recherche industrielle. Il est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) source d'électrons, fournissant une imagerie de précision à un haut niveau de grossissement. Le FEI Quanta 200 offre une gamme de fonctionnalités uniques, telles que des systèmes d'imagerie haute résolution, des capacités de balayage à pression variable, des détecteurs secondaires et rétrodiffuseurs de haute qualité, et une grande chambre d'échantillonnage standard. PHILIPS Quanta 200 est un SEM à pression variable (VP-SEM), ce qui signifie qu'il permet aux utilisateurs de sélectionner la pression de fonctionnement de la colonne électronique. Ceci est avantageux dans l'analyse d'échantillons délicats, car la réduction de pression permet une plus grande gamme de techniques d'analyse, y compris celles mettant en jeu des liquides et des gaz. Quanta 200 est équipé de détecteurs SE et ESB, qui permettent la collecte d'électrons rétrodiffusés et secondaires pour la génération d'images haute résolution. Les détecteurs d'ESB permettent de collecter des électrons plus légers, ce qui permet de détecter des concentrations d'éléments plus faibles. Le SEM est également équipé d'un faisceau d'ions focaux (FIB) qui peut être utilisé pour extraire, collecter et analyser avec précision une large gamme de particules de l'échantillon. La FIB est également capable de créer un échantillon transversal, exposant divers niveaux de détail à l'intérieur de l'échantillon. PHILIPS/FEI Quanta 200 est alimenté par la nouvelle version du logiciel Omega, fournissant à l'utilisateur une plate-forme multiforme pour l'acquisition et l'analyse d'images et de données de signal. Le logiciel permet l'intégration d'un large éventail d'outils de traitement du signal et de l'image, ainsi que la manipulation et l'analyse des données acquises. Enfin, avec sa gamme complète de fonctionnalités, FEI Quanta 200 est une solution de microscope idéale pour une variété d'applications et d'études de recherche. Sa haute résolution, ses détecteurs multiples et ses capacités de pression variables contribuent à faciliter une vaste gamme de recherches sur différents matériaux et substances.
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