Occasion PHILIPS / FEI Quanta 200F #9362641 à vendre en France

PHILIPS/FEI Quanta 200F Scanning Electron Microscope (SEM) fournit une imagerie polyvalente pour les chercheurs et les ingénieurs dans les domaines de la science des matériaux et de l'industrie. Il offre une variété de techniques d'imagerie pour fournir des images supérieures de microstructures à l'échelle du nanomètre. FEI Quanta 200F a un SNR (rapport signal sur bruit) stimulant le détecteur d'électrons secondaire dans la lentille, obtenant une résolution de 2 nm pour permettre une analyse détaillée des surfaces. Ce détecteur permet l'imagerie d'échantillons plus transparents aux électrons, ce qui est idéal pour caractériser les caractéristiques de microstructure dans les dispositifs semi-conducteurs et les échantillons biologiques. Le SEM a une sous-résolution, ce qui est idéal pour l'imagerie de surface optimisée. Il a une distance de travail allant de 20 mm à 1 mm, ce qui donne à l'utilisateur un contrôle précis de la distance de fonctionnement du microscope et de l'imagerie des échantillons. Le système électrostatique compensé par la pression permet de réduire les effets des vibrations environnementales sur l'imagerie des échantillons. PHILIPS QUANTA 200 F dispose d'une variété de modes d'imagerie pour répondre à différents besoins de recherche. Il dispose d'imagerie électronique rétrodiffusée basse tension pour l'information topographique, et le mode STEM à pression variable avec un grand champ de vision pour l'imagerie ultra haute résolution. Les utilisateurs peuvent visualiser la structure d'un échantillon avec le mode de contraste d'interférence différentiel Nomarski. Le collimateur de réglage fin automatisé, la taille du faisceau d'électrons, la tension d'accélération et la sensibilité du détecteur rendent PHILIPS Quanta 200F très polyvalent. Par exemple, l'utilisateur peut ajuster les fonctionnalités pour obtenir la meilleure qualité d'image avec le moins de temps. Le microscope électronique à balayage Quanta 200F est un instrument puissant, adapté à un large éventail d'applications dans une variété d'industries. Il offre une image haute résolution, ainsi qu'un ensemble polyvalent de modes d'imagerie et de fonctions de réglage automatisé pour en faire un excellent choix pour l'examen de microstructures et de matériaux.