Occasion PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #293600869 à vendre en France

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ID: 293600869
Style Vintage: 2009
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) OMNIPROBE 200 for lift out (3) Gases: Pt, XeF2 and W CL Centaurus detector EDAX: EDS, WDS, EBSD Magnum ion column Hard Disk Drive (HDD) PC Non-functional 2009 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG est un canon à émission de champ (FEG) microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit une imagerie et une analyse ultra haute résolution. Ce système d'imagerie avancé fournit des images de l'échantillon à la résolution nanométrique. Il offre également un large éventail de capacités d'inspection, telles que l'analyse de la composition élémentaire, la cartographie de la topographie de surface et l'analyse des matières volatiles. FEI Quanta 3D FEG utilise un canon à émission de champ (FEG) pour générer un faisceau avec une très petite sonde électronique. Ce faisceau à focalisation étroite fournit des détails de niveau atomique du matériau inspecté, permettant à l'utilisateur d'identifier des défauts de matériaux de taille considérable et d'autres caractéristiques qui ne sont pas visibles avec les systèmes SEM classiques. Le système de contrôle de faisceau PHILIPS QUANTA 3 D FEG assure un profil de faisceau stable et des résultats d'imagerie plus précis. PHILIPS/FEI QUANTA 3 D FEG permet aux utilisateurs d'analyser une large gamme de matériaux, des isolants aux conducteurs et semi-conducteurs. Cela inclut l'observation à haute résolution des nanostructures, tranchées, surfaces et caractéristiques microscopiques d'une variété de matériaux à couches minces. De plus, le faisceau d'électrons du système peut interagir avec l'échantillon pour fournir des informations sur la composition élémentaire et les structures cristallines. QUANTA 3 D FEG est équipé de nombreuses fonctions d'imagerie et d'analyse, permettant aux utilisateurs de détecter un large éventail de propriétés matérielles. Cela comprend, sans s'y limiter, la diffraction par rétrodiffusion d'électrons, la spectroscopie par rayons X dispersive d'énergie, la reconnaissance et la quantification de la forme, l'analyse par couches minces et l'imagerie augmentée par une gamme de logiciels de mesure quantitative. Dans l'ensemble, FEI QUANTA 3 D FEG est un puissant microscope électronique à balayage idéal pour les applications en sciences des matériaux, des sciences de la vie et de la nano-ingénierie. Cette technologie de pointe offre des performances, une stabilité et une flexibilité supérieures pour une large gamme d'imagerie haute résolution et d'analyse de composition élémentaire.
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