Occasion PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #293814859 à vendre en France

PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG est un microscope électronique à balayage à haute résolution (SEM) spécialement conçu pour l'imagerie fiable et précise dans tous les domaines de la recherche en nanosciences. Ce SEM est équipé d'une source électronique de canon à émission de champ (FEG), qui produit un faisceau focalisé de haute intensité qui permet l'imagerie à l'échelle nanométrique. FEI Quanta 3D FEG a une plage de tension primaire de 1-30 kV et une tension d'atterrissage variable de 0,2-6 kV, permettant une large gamme d'exigences d'imagerie d'échantillons. Le courant du faisceau et la taille du spot sont entièrement réglables, assurant une résolution de 0,2 nm et moins. Les fonctions d'imagerie avancées sur PHILIPS QUANTA 3 D FEG comprennent le microscope automatique à balayage (SAM) qui intègre à la fois le SEM et la cathodoluminescence (CL). Le mode CL permet l'imagerie directe des émissions photoniques des échantillons, permettant une analyse quantitative de la structure cristalline locale et de l'orientation. De plus, les détecteurs d'électrons rétrodiffusés et secondaires fournissent des informations topographiques et compositionnelles sur la surface de l'échantillon. Cette information est encore améliorée par les détecteurs SE dans l'objectif pour l'imagerie de contraste élémentaire haute résolution. PHILIPS Quanta 3D FEG est équipé d'une variété de porte-échantillons qui permettent la préparation d'échantillons humides et secs. Ce SEM utilise la technologie environnementale qui fournit une gamme de vide variable de 5 × 10-6 à 2 × 10-11 mbar pour une flexibilité de balayage ultime. Une caméra vidéo/numérique intégrée est également incluse, ce qui facilite l'acquisition d'images à différents grossissements. L'échelle intégrée fournit un écran numérique qui peut être utilisé pour l'alignement des caractéristiques et les mesures. Quanta 3D FEG est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour fournir des images haute résolution sur des échantillons nanométriques. Le courant de faisceau réglable et la taille du spot, ainsi que les détecteurs CL et ESB en option, permettent une imagerie précise avec une grande précision. Avec sa technologie environnementale de pointe, une variété de porte-échantillons et une caméra vidéo/numérique intégrée, ce SEM offre une solution tout-en-un exceptionnelle pour la recherche à l'échelle nanométrique.