Occasion PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #9237481 à vendre en France
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Vendu
ID: 9237481
Focused Ion Beam (FIB) system
SEM+ Ion column
Omni probe system: Manual type
GIS, PT.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) qui permet une imagerie 3D sans précédent de matériaux utilisant une variété de techniques analytiques. Il a une excellente résolution de 0,7 nm pour la collecte d'images haute résolution et de cartes élémentaires. FEI Quanta 3D FEG est capable de détecter des caractéristiques nanométriques, des distorsions et des structures moléculaires dans des environnements difficiles tels que leurs résultats d'essais de résolution et l'épaisseur de l'échantillon, ce qui le rend idéal pour des applications telles que la lithographie semi-conductrice, l'analyse de circuits, les études métallographiques et l'analyse des défaillances. Il peut également être utilisé pour évaluer la rugosité de surface, les niveaux de contamination et les états de corrosion. PHILIPS QUANTA 3 D FEG utilise un canon à émission de champ (FEG) également connu sous le nom de canon à émission cathodique froide. Cette technologie de pointe permet au microscope d'améliorer les performances de l'imagerie basse et haute tension. Ceci est dû à la capacité de la FEG à maintenir un courant de faisceau primaire très stable et constant sur une large gamme de tensions de fonctionnement qui se traduit par une meilleure qualité d'image et la stabilité. En outre, le canon a une poutre finement focalisée qui facilite l'analyse de petites caractéristiques ainsi que la détection d'imperfections dans de grandes zones. Le microscope est équipé d'une variété de fonctionnalités avancées pour garantir des performances maximales et fournir un flux de travail complet. Ces caractéristiques comprennent un système d'échange de spécimens entièrement automatisé, un contrôleur de balayage à grande vitesse, un système de balayage rapide et un détecteur de rétrodiffusion à basse tension automatisé. Il dispose également d'un système automatisé de contrôle de la température de l'échantillon et de l'environnement gazeux qui permet une analyse optimale des échantillons, même les plus difficiles. Quanta 3D FEG offre également un excellent contraste d'image et un rapport signal sur bruit qui permettent de récupérer des informations précieuses à partir d'une gamme de surfaces d'échantillons. La flexibilité du microscope permet également à l'utilisateur d'ajuster la tension de fonctionnement pour acquérir une large gamme de signaux. Cet outil polyvalent offre une excellente résolution et de superbes capacités d'imagerie, ce qui en fait le choix idéal pour toute application de microscopie. De l'analyse des défaillances et de la production de semi-conducteurs à l'imagerie haute résolution et à l'imagerie 3D, PHILIPS/FEI QUANTA 3 D FEG fournit des résultats fiables avec facilité et précision.
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