Occasion PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #9266789 à vendre en France

ID: 9266789
Dual beam SEM Ion beam resolution: 7 nm at 30 kV (Beam coincident point) Electron beam resolutions: High vacuum 0.8 nm at 30 kV (STEM) 1.2 nm at 30 kV (SE) 2.5 nm at 30 kV (BSE) 2.9 nm at 1 kV (SE) Low vacuum: 1.5 nm at 30 kV (SE) 2.5 nm at 30 kV (BSE) 2.9 nm at 3 kV (SE) Extended low vacuum mode (ESEM) 1.5 nm at 30 kV (SE) Chamber vacuum: High vacuum: < 6e-4 Pa Low vacuum: 10 to 130 Pa ESEM Vacuum: 10 to 4000 Pa Pump down time (high-vacuum): < 3 Minutes Power supply: Accelerating voltage: 200 V - 30 kV Probe current: up to 200 nA.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) qui permet l'imagerie ultra haute résolution des matériaux dans tous les domaines. Cet instrument polyvalent combine la technologie de pointe des canons à émission de champ (FEG) de FEI avec l'électronique de balayage robuste de PHILIPS pour fournir une plate-forme d'imagerie puissante pour l'imagerie et l'analyse à l'échelle nanométrique. FEI Quanta 3D FEG est un équipement compact qui dispose de l'imagerie haute résolution à une résolution allant jusqu'à 1 nanomètre. Avec un large champ de vision pouvant atteindre 50 millimètres, ce système est capable de capturer de grandes zones d'un échantillon en détail avec un seul balayage. L'instrument est conçu pour acquérir facilement des images des structures tridimensionnelles les plus complexes. L'instrument dispose d'un étage de spécimen automatisé qui peut se déplacer jusqu'à 150 mm dans les axes x, y et z, ce qui facilite l'imagerie de grand champ de vision. L'unité est également équipée d'une commande électronique-colonne avancée, ce qui facilite l'optimisation automatisée des conditions optimales d'imagerie pour des matériaux très différents. Cela permet aux utilisateurs de routine d'obtenir facilement des résultats de haute qualité. La Quanta 3D dispose également d'une machine de manutention automatisée polyvalente. Cette technologie de pointe peut modifier le placement des échantillons pour différents types d'imagerie tels que les électrons secondaires basse tension, les électrons secondaires forts dans les lentilles et l'imagerie électronique rétrodiffusée. Le Quanta 3D peut également effectuer une analyse élémentaire avancée (EDX et EBSD) et une analyse de faisceau d'ions (IBM et ISS) pour acquérir des informations de composition et des détails de sous-microns. En plus de ses nombreuses fonctionnalités, le Quanta 3D comprend également divers logiciels qui permettent une analyse et une manipulation avancées des données. Le logiciel permet aux utilisateurs d'accéder aux reconstructions 3D, au profilage de surface et au traitement d'image numérique. Ces caractéristiques font de Quanta 3D un instrument idéal pour l'imagerie et la caractérisation d'un large éventail de matériaux.
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