Occasion PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #9272543 à vendre en France
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Vendu
ID: 9272543
Focused Ion Beam (FIB) system
(4) Gases: XeF2 (Glass etch), Platinum, Iodine (Metal etch), Idep2 (Glass deposition)
ETD Detector
Does not include backscatter detector.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui dispose d'un Field Emission Gun (FEG) pour la qualité et la résolution de l'image ultime. La solution combine des capacités d'imagerie et d'analyse avancées pour aider à débloquer des informations précieuses à partir de structures et de matériaux 3D à l'échelle micronale. Avec son interface utilisateur avancée, FEI Quanta 3D FEG permet aux utilisateurs de configurer et de prendre rapidement et facilement des images 3D étonnantes dans un large éventail d'applications dans une variété de disciplines scientifiques et industrielles. PHILIPS QUANTA 3 D FEG est conçu pour être utilisé dans une gamme d'applications, telles que l'analyse de matériaux, la caractérisation de couches minces et la mesure de topographie. Il est capable de réaliser l'imagerie basse-kV pour les longues distances de travail et l'imagerie haute-kV pour la résolution détaillée des structures fines et des caractéristiques. Sa technologie de pointe intégrée permet de mesurer rapidement et avec précision les structures tridimensionnelles. La FEG est la caractéristique la plus importante de QUANTA 3 D FEG. La FEG est un type de source d'électrons qui utilise des champs électriques pour émettre des électrons de haute énergie à partir d'une pointe métallique froide, qui est maintenue en place par une cartouche insérable. Contrairement aux sources électroniques traditionnelles qui utilisent un filament chauffé pour générer des électrons, la FEG permet des images beaucoup plus haute résolution. Ceci est le résultat des électrons à basse énergie qui sont émis de sa pointe métallique froide. PHILIPS/FEI QUANTA 3 D FEG dispose également d'un système intégré d'alarme et d'échange automatisé de gaz. Ce système assure un vide stable pour des performances optimales dans les modes SEM à vide élevé et faible. Quanta 3D FEG est construit sur une plate-forme ouverte, ce qui le rend facilement configurable pour répondre aux besoins d'un large éventail d'applications. La plateforme bénéficie également d'un design modulaire unique, ce qui facilite encore l'exploration de nouvelles applications en toute confiance. FEI QUANTA 3 D FEG offre également une large gamme de fonctionnalités automatisées. Il s'agit notamment d'outils automatisés d'optimisation de l'image, de contrôle automatisé de la qualité de l'image et de correction automatique de la dérive. De plus, le SEM comprend une série complète de pièces jointes analytiques complémentaires qui facilitent une gamme de techniques de caractérisation, y compris l'analyse des rayons X dispersifs énergétiques (EDXA) et la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD). PHILIPS Quanta 3D FEG est un outil avancé d'imagerie et d'analyse capable d'apporter une contribution précieuse à la recherche et à la découverte dans un large éventail de domaines et d'industries. C'est une interface utilisateur intuitive et une gamme de fonctionnalités puissantes en font une solution idéale pour ceux qui cherchent à déverrouiller les secrets des structures et matériaux nanométriques.
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